Главная
Методики
Услуги
Приборный парк
Аналитический высокоразрешающий электронный микроскоп с корректором аберраций объектива и приставками EDX и EELS
Микроскоп электронный растровый с литографической приставкой
Микроскоп электронный сканирующий с приставкой ЕDX
Установка фокусированных ионных пучков CROSS BEAM с приставкой EDX и литографической приставкой
Сканирующая зондовая нанолаборатория
Вакуумная установка для напыления проводящих и деэлектрических слоев
Оптический микроскоп
Модернизированный микроинтерферометр измерительный
Комплекс пробоподготовки для микроскопии
Сверхвысоковакуумный туннельный сканирующий микроскоп
Высокоразрешающий электронный микроскоп
Комплекс сверхвысоковакуумной отражательной электронной микроскопии
Сверхвысоковакуумная установка Compact - 21T
Сканирующий электронный микроскоп Hitachi SU8220
Установка оптической литографии
Лазерный комплекс для компарирования размеров в микрометровом и нанометровом диапазонах
Микроскоп мультимодовый сканирующий зондовый
Микроскоп электронный сканирующий с приставкой ЕDX
Химический участок
Станция и параметрический анализатор электрофизических измерений
Программно-Вычислительный комплекс
Комплект мер нанометрового диапазона размеров
Многофункциональный комплекс плазмохимической обработки для создания сложных структур и устройств на их основе
Система ионно-лучевой обработки IM150, Oxford Applied Research, UK
Оптический прямой микроскоп Olympus BX35
Раман спектрометр Horiba XploRa Plus cо сканирующим зондовым микроскопом
Вычислительный кластер ИФП СО РАН
Установка атомно-слоевого осаждения металлов, полупроводников и диэлектриков (sentech)
Установки рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) ARPES FlexPS (модульная концепция) для анализа химического и зарядового состояния атомов на поверхности
Профилометр "S NEOX"
Установка плазмохимического травления
Метрологическое обеспечение
Документы
Сотрудничество и аккредитация
Ведущая научная школа
Научно-образовательный центр
Кафедра
Кадровый состав
Руководитель
Публикации и патенты
Учебные пособия
Контакты и реквизиты
История
Отделения ЦКП
Высокоразрешающая электронная микроскопия
Отражательная электронная микроскопия
Сканирующая электронная микроскопия
Зондовая микроскопия
Туннельная микроскопия
Нанолитография
Ионная литография
Микролитография
Электрофизические измерения
Моделирование
Пробоподготовка
Метрологическая поддержка
Вакуумная установка для напыления проводящих и диэлектрических слоев
Марка
— SunPla 600 ТЕМ.
Производитель/страна
— SunPlaEng, Республика Корея.
Год модернизации
— 2013.
Балансовая стоимость
— 19 703 тыс. руб.
Расположение - к. 305
Искать...
Контакты
630090
г. Новосибирск,
пр. Академика Лаврентьева, 13
Телефон, факс
: (383) 330-90-82,
(383) 333-10-80
Email
:
Подать заявку на услуги
Список заявок
Аккредитация в качестве организации-партнера
Порядок расчета стоимости услуг
Типовая форма договора на оказание услуг
План работы ЦКП
Текущие проекты и отчёты
Научно-технический совет
Главная
Приборный парк
Вакуумная установка для напыления проводящих и деэлектрических слоев