
- Марка — Solver P7LS.
- Производитель/страна — НТ-МДТ, Россия.
- Технические характеристики —
- Разрешение по вертикали — лучше, чем 0,15 нм.
- Латеральное разрешение зависит от размера зонда (~10 нм) и высоты рельефа поверхности.
- Максимальный размер поля сканирования — 110×110 мкм2.
- Для работы в атмосферных условиях.
- Для больших пластин.
- Поддерживается зондовая литография.
- Поддерживается измерение распределения по поверхности:
- электростатического потенциала,
- кулоновского заряда,
- электрической емкости ( в относительных единицах),
- намагниченности,
- твердости,
- силы трения.
- Местонахождение в ЦКП — Отделение зондовой микроскопии, к. 107.
- Год модернизации — 2012.
- Балансовая стоимость — 4160 тыс. руб.
- Нормативная стоимость часа работы с учетом амортизации — 2197 руб.
- Нормативное (среднее) количество обработанных образцов в час — 1.
- Предоставляемые услуги —
- Проведение измерений линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и биологических объектов в нанометровом диапазоне.
- Исследование морфологии и структуры поверхности твердотельных структур и оперативный контроль атомарных поверхностей методами сканирующей туннельной, атомно-силовой и электронной микроскопии.
- Cоздание структур пониженной размерности для наноэлектроники и наномеханики на основе комплекса литографических методов включающих электронную, ионно-лучевую и зондовую литографию.
- Используемые методики —
- Методика трехмерных измерений линейных размеров элементов структур микро и нанорельефа поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
- Методика трехмерных измерений линейных размеров элементов структур микро и нанорельефа поверхности конденсированных сред с помощью мер нанометрового диапазона.
- Методика измерений распределения электростатического потенциала по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
- Методика измерений распределения электростатического заряда по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
- Методика измерений распределения производной емкости (в относительных единицах) по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
- Методика измерений распределения намагниченности (в относительных единицах) по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
- Методика измерений микротвердости (в относительных единицах) поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
- Методика измерений распределения трения (в относительных единицах) по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
- Методика модификации поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.