Интерференционный микроскоп профилометр «МНП-1» предназначен для бесконтактного измерения нанорельефа поверхностей с разрешением по глубине до 0,1 нм. Прибор представляет собой сканирующий интерферометр частично-когерентного света. Принцип работы основан на измерении фазовой функции волнового фронта рассеянного объектом света. Прибор работает в двух режимах: микро- и нано измерения. Для выбора области измерения на объекте исследования прибор оснащен программно управляемым двухкоординатным столиком с диапазоном перемещения 0-50 мм по обеим координатам.Программное обеспечение МНП-1 позволяет производить измерение и 3D-реконструкцию микро- и нано- рельефа (шероховатости) поверхности по серии измерений.

1. ---

   Марка — МНП-1.
2. Производитель/страна — КТИ НП СО РАН, Россия.
3. Технические характеристики:
   • I. Измерение нанорельефа
     - диапазон по высоте измерений – от 0 до 50 мкм,
     - разрешение по глубине – 1 нм,
     - поперечное разрешение – 0,32 мкм,
     - площадь измерения – 0,45×0,33 мм²,
     - время измерения – 10 сек;
   • II. Измерение микрорельефа
     - диапазон измерений по высоте – от 0 до 10 мм,
     - разрешение по глубине – 0,5 мкм,
     - поперечное разрешение – 0,32 мкм,
     - площадь измерения – 0,45×0,33 мм²,
     - время измерения – 10 сек;
4. Год модернизации — 2014.
5. Балансовая стоимость — 1950 тыс. руб.