Список заявок

Дата поступленияОрганизацияКонтактное лицоСтатус заявкиРезультат
15.08.2024Айкюдеми Кемикалс Буханец Олег Гргорьевичнаходится на рассмотрении
22.01.2024АО РОТЕК Фомин Олег Владимировичнаходится на рассмотрении
15.01.2024ООО "С2 ГРУПП" Каменев Дмитрийнаходится на рассмотрении
30.06.2023ФГАОУ ВО ЮУРГУ НИУ Большаков Олег Игоревичнаходится на рассмотрении
10.05.2023ООО НПФ "Нанопорошковые технологии" Зырянов Дмитрий Владимировичнаходится на рассмотрении
05.04.2023ИФП СО РАН Сидоров Г.Ю.принята
22.02.2023Северо-Восточный федеральный университет имени М. К. Аммосова Спиридонов Александр Михайловичотклонена
10.02.2023 Порозов глеботклонена
20.12.2022 Михаил Клевакинотклонена
28.07.2022ИФП СО РАН, л.10 Феклистов Константин Викторовичпринятавыполнена
22.07.2022ИНХ СО РАН Викулова Евгения Сергеевнапринятавыполнена
14.07.2022ИФП СО РАН Тысченко Ида Евгеньевнапринятавыполнена
05.05.2022ОИЯИ Aliyeva Yetarнаходится на рассмотрении
09.02.2022ИФП СОРАН Милёхин А.Г.принятавыполнена
09.02.2022ИФП СОРАН Милёхин А.Г.принятавыполнена
17.01.2022ИФП СО РАН, лаб.28 Сидоров Георгий Юрьевичпринятавыполнена
27.12.2021ИФП СО РАН Зиновьев Владимир Анатольевичпринятавыполнена
24.12.2021ИФП СО РАН Зиновьева Айгуль Фанизовнапринятавыполнена
01.12.2021ИФП СО РАН Черкова Светлана Глебовнапринятавыполнена
09.11.2021ООО Космынин Алексей Николаевичотклонена
17.08.2021Ит со ран Смовж дмитрий владимировичпринятаВыполнена
07.07.2021ИФП СО РАН, лаб. №10 Феклистов Константин Викторовичпринятавыполнена
09.06.2021НЗПП Восток Тихоненко Фёдор Вячеславовичпринятавыполнена
03.06.2021КФТИ – обособленное структурное подразделение ФИЦ КазНЦ РАН Лядов Николай Михайловичпринятавыполнена
01.06.2021Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Зиновьев Владимир Анатольевичпринятавыполнена
25.05.2021ИФП СОРАН Милехин А.Г.принятавыполнена
13.04.2021ИФП СО РАН Небогатикова Надежда Александровнапринятавыполнена
31.03.2021ИГХ СО РАН им. А.П. Виноградова Пещерова Светлана Михайловнапринятавыполнена
16.03.2021ИФП СОРАН Милехин А.Г.принятавыполнена
09.03.2021ИТ СО РАН Замчий Александр Олеговичпринятавыполнена
20.11.2020ООО "ОКСиАл.ру" Сайк Владимир Оскаровичпринятавыполнена
14.12.2019ООО "Криптон" Иван Алексеевич Александровотклонена
05.09.2019Институт сильноточной электроники СО РАН г.Томск Фролова Валерия Петровнаотклонена
30.07.2019Институт ядерной физики имени Г. И. Будкера СО PAH Никифоров Данила АлексеевичпринятаПроведена оптическая металлография, выполнен анализ и картирование. Проведен химанализ и изучена морфология структур.
11.07.2019Институт биофизики Красноярск Шишацкая Екатерина Игоревнапринятавыполнена
26.02.2019Институт ядерной физики СО РАН Таскаев Сергей Юрьевичотклонена
18.12.2018 Новоселова Лариса Юрьевнапринятавыполнена
21.11.2018ООО Катод Горшков Дмитрий Валериевичотклонена
19.11.2018 Гринько Алексей СергеевичпринятаВыполнен анализ шероховатости поверхности металлических образцов с помощью микроскопа Olympus BX35 и микроинтерферометра МНП-1
07.11.2018Красноярский научный центр СО РАН Воронин Антон Сергеевичотклонена
30.10.2018ИТ СО РАН Смовж Дмитрий ВладимировичпринятаВыполнены СЭМ и EDX анализ тонких металлических пленок.
02.10.2018Институт Систематики и Экологии Животных СО РАН Павлушин Сергейотклонена
31.08.2018Институт катализа СО РАН Сашкина Ксения Александровнапринятавыполнена
05.06.2018 Капустьянов Максим ВикторовичпринятаВыполнен СЭМ анализ углеродных покрытий
28.05.2018ИГМ СО РАН Чепуров А.А.принятаВыполнения анализа морфологии поверхности синтетических алмазов, выращенных на установки БАРС (ИГМ СО РАН). Исследование распределения кластеров примесей в синтетическом алмазе. Оборудование - Лазерный комплекс для компарирования размеров в микрометровом и нанометровом диапазонах, Оптический прямой микроскоп Olympus BX35.
05.02.2018ФБГУН ИК СО РАН Саланов А.Н.принята Проведены СЭМ-исследования морфологии поверхностей различных катализаторов
15.01.2018ФБГУН ИГМ СО РАН Титов А.Г.принятаПроведены СЭМ-исследования структуры геологических образцов, их элементный анализ
15.01.2018ИФП СО РАН Смагина Ж.В.принятаПроведена литография на поверхности кремния, получены СЭМ-изображения после травления и роста германия.
09.01.2018ФБГУН ИФП СО РАН Алиев В.Ш.принятавыполнена
09.01.2018ФБГУН ИФП СО РАН Преображенский В.В.принятавыполнена
09.01.2018ФБГУН ИФП СО РАН Гриценко В.А.принятаЭлектронно-микроскопические исследования атомной структуры и морфологии тонких пленок оксида гафния, легированных La, синтезированных методом плазма-стимулированного атомно-слоевого осаждения с последующим быстрым отжигом
09.01.2018ФБГУН ИФП СО РАН Попов В.П.принятаЭлектронно-микроскопические исследования вертикальной топологии транзисторных структур в КНИ системах, контактное лицо
09.01.2018ФБГУН ИФП СО РАН Тимофеев В.А.принятаАнализ оособенностей структуры напряженных сверхрешеток GeSiSn – Si (001) методами электронной микроскопии
09.01.2018ФБГУН ИФП СО РАН Атучин В.В.принятавыполнена
09.01.2018ФБГУН ИФП СО РАН Антонова И.В.принятаЭлектронно-микроскопические исследования атомной структуры и морфологии пленок фторографена (ФГ), полученных путем обработки пленок мультиграфена в водном растворе плавиковой кислоты
09.01.2018ФБГУН ИФП СО РАН Валишева Н.А.принятаЭлектронно-микроскопические исследования атомной структуры и морфологии границ раздела в меза-структурах с барьером Шотки Au/Ti/n-In 0.52 Al 0.48 As/InP(001)
09.01.2018ФБГУН ИФП СО РАН Никифоров А.И.принятавыполнены
09.01.2018ФБГУН ИФП СО РАН Журавлев К.С.принятавыполнена
09.01.2018ФБГУН ИФП СО РАН Шамирзаев Т.С.принятаИсследования методом высокоразрешающей аналитической электронной микроскопии структурно-морфологических особенностей ультратонких эпитаксиальных слоев InSb и GaSb в широкозонной матрице GaP, выращенной методом МЛЭ на Si(001)
09.01.2018ФБГУН ИФП СО РАН Торопов А.И.принятавыполнена
09.01.2018ФБГУН ИФП СО РАН Принц Д.Я.принятаЭлектронно-микроскопические исследования атомной структуры и морфологии нанокристаллов диоксида ванадия на подложках кремния и на поверхности кремниевых кантилеверов
28.12.2017НГУ Гартвич Г.Г.принятаМетодом СЭМ исследованы тонкие слои золота осажденные магнетронным испарением
07.12.2017ФБГУН ИГМ СО РАН Чепуров А. принятаМетодом АСМ исследованы повехности граней алмазов. Получены профили рельефа вдоль граней алмаза. Посчитаны средняя и средеквадратичная шероховатости поверхности граней.
05.12.2017ФБГУН ИФП СО РАН Попов В.П.принятаПроведены ВРЭМ поперечных срезов гетеросистем, полученных по smart-cut технологии.
21.11.2017ФГБУН ИНХ СО РАН Федосеева Ю.А.принятаМетодом СЭМ исследованы литированные углеродные нанотрубки и слои графена
02.11.2017ФТИ им ИОФФЕ РАН, Санкт Петербург Соболев Н.Н.принятаПроведены ВРЭМ исследования кристаллов кремния, имплантированных кислородом
09.10.2017КНЦ СО РАН Симунин Михаил Максимовичотклонена
22.09.2017Иркутксий филиал ИЛФ СО РАН Мартынович Евгений ФедоровичпринятаПроведены электрономикроскопические исследования диэлектрических образцов LiF. Получены скрытые изображения в образцах, сформированные электронным пучком, электронно-микроскопические изображения
15.09.2017ФБГУН ИФП СО РАН Преображенский В.В.принятаПроведены ВРЭМ исследования поперечных срезов гетеросистем GaAs-Si, GaSb-Si с пробоподготовкой
10.07.2017ФБГУН ИНХ СО РАН Файнер Н.И.принятаПроведены ВРЭМ исследования влияния условий синтеза на структуру и свойства новых материалов SiCxNyMez для спинтроники.
20.06.2017ФГБУН НИИ КПССЗ, г. Кемерово Кутихин А.Г. находится на рассмотренииПроведены сканирующая электронная микроскопия, просвечивающая электронная микроскопия и атомно-силовая микроскопия кальций фосфатных бионов
16.05.2017ФГБУН ИХКГ СО РАН Баранов Д.В. принятаМетодом резистивного вакуумного испарения на подложках получены проводящие органические покрытия впервые синтезированных веществ
15.05.2017ИТ СО РАН Козулин Игорь АнатольевичпринятаПроведено измерение нанорельефа поверхности микронагревателя
03.05.2017ФГБУН ИФП СО РАН Закиров Е. Р. находится на рассмотренииМетодом СЭМ исследованы слои КРД/оксид/Al2O3/золото и КРД/Al2O3/золото
12.04.2017ФБГУН ИФП СО РАН Гриценко В.А.принятаПроведены ВРЭМ исследования поперечных срезов гетеросистем HfO2-Si.
10.04.2017ФГБУН ИХКГ СО РАН Уваров М.Н. принятаМетодом резистивного вакуумного испарения на подложки нанесены слои оксида селена
28.03.2017АО Катод Долгих А.В.принятаМетодом АСМ исследована морфология поверхности керамичиских колец. Исследованы дефекты на поверхности пластин GaAs, определены размеры дефектов.
21.03.2017ФГБУН ИГМ СО РАН Хохряков А.Ф.принятаИсследован ступенчатый рельеф {100} граней кристаллов алмаза, выращенных в Mg-C и Mg0,9Ge0,1-C системах при 7,0 ГПа и 1800-1900°С с помощью атомно-силовой микроскопии.
20.03.2017ФБГУН ИАПУ ДВО СО РАН Галкин Н.Г.принятаПроведены исследования (СЭМ, ПЭМ с препарированием и анализом) кремний-силицидных структур со встроеными нанокристалитами с железом и гетероструктур SiSn/Si
15.03.2017ООО "Карбон тех", Новосибирск Рябых В.В.принятаПроведены микроскопические исследования (СЭМ, ПЭМ), морфологии и структуры «металл-УНТ» с препарированием
11.02.2017ФБГУН ИХТТМ СО РАН Косова Н.В.принятаПроведен ВРЭМ анализ особенностей структуры новых материалов для литий-ионных батарей.
28.01.2017НИИ КПССЗ, г. Кемерово Кутихин А. принятаМетодом АСМ измерены размеры игольчатых кальций-фосфатных и магний-фосфатных, а также сферических кальций-фосфатных наночастиц.
23.01.2017ФГБУН ИФМ РАН Новиков А.В.принятаРазработаны схемы микрорезонаторов для генератора изображений ЭЛЛ
20.01.2017ФГБУН ИК СО РАН Саланов А.Н.принятаПроведены СЭМ-исследования морфологии поверхностей различных катализаторов
11.01.2017ФБГУН ИФП СО РАН Гриценко В.А.принятапроведены ВРЭМ исследования поперечных срезов гетеросистем HfO2-Si с пробоподготовкой.
11.01.2017ФГБУН ИГМ СО РАН Титов А.Г.принятаПроведены СЭМ-исследования структуры геологических образцов, их элементный анализ
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Антонова И.В.принятаПолучены СЭМ- и ВРЭМ изображения морфологии графеновых слоев
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Шевырин А.А.принятаС помощью СЭМ определены размеры создаваемых подвешенных структур на основе GaAs
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Фомин Б.И.принятаПроведен СЭМ-контроль технологических процессов изготовления различных структур на основе КНИ
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Вицина Н.Р.принятаПроведены СЭМ-исследования структуры приборов BSH, определены технологические размеры
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Кириенко В.В.принятаПроведены СЭМ-сследования: определены размеры и внешний вид создаваемых структур после литографии, напыления, травления
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Протасов Д.Ю.принятаПроведены СЭМ-исследования сколов образцов GaN, получены изображения внешнего вида, определена глубина травления
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Гайслер В.А.принятаПроведены СЭМ-исследования внешнего вида, дефектов, определены размеры многослойных структур на основе GaAs
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Терещенко О.Е.принятаПроведен элементный анализ стекол. Методом АСМ исследована поверхность катодов InAs. Получена топография поверхности, изучены поверхностные дефекты.
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Дмитриев Д.В.принятаМетодом АСМ исследованы поверхности InAs и GaAs. Получены топографические изображения рельефа исследуемых образцов.
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Демьяненко И.А.принятаПроведены СЭМ-исследования структуры на пластинах, измерены размеры и глубина травления, проведен элементный анализ
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Семенова О.И.принятаПолучены СЭМ-изображения структуры создаваемых пленок
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Сабинина И.В.принятаПроведены (СЭМ, ПЭМ) исследования пленок КРТ
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Смагина Ж.В.принятаПроведен элементный анализ многослойных GeSi структур. Проведена литография на поверхности кремния, получены СЭМ-изображения после травления.
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Торопов А.И.принятаВРЭМ поперечных срезов гетеросистем на основе соединений III-V для матричных фотоприемников с пробоподготовкой
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Шамирзаев Т.С.принятаВРЭМ поперечных срезов гетеросистем с квантовыми точками на основе соединений III-V с пробоподготовкой
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Никифоров А.И.принятаПроведены ВРЭМ исследования поперечных срезов гетеросистем GeSiSn-Si с пробоподготовкой.
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Голод С.В.принятаПолучены СЭМ-изображения мезоскопических систем
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Атучин В.В.принятаПолучены СЭМ-изображения СЭМ новых материалов на основе Cs2Pb(MoO4)2, Rb3NdB6O12 и Y3Al5O12 :Ce3 для оптоэлектронных приложений; ВРЭМ поперечных срезов гетеросистем CdZnO-Si с пробоподготовкой
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Чистохин И.Б.принятаПроведены измерения I/V и C/V характеристик диодов BSH на зондовой станции
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Наумова О.В.принятаИзмерения I/V и C/V характеристик приборов на основе КНИ на зондовой станции В1500
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Алиев В.Ш.принятаПроведены ВРЭМ исследования пленок ZrOx. Получены СЭМ-изображения морфологии поверхности структурированных образцов
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Воронковский В.А.принятаПроведены измерения I/V и C/V структур на зондовой станции
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Степина Н.П.принятаПолучены СЭМ-изображения кремниевых пленок
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Малин Т.В.принятаМетодом АСМ исследована морфология поверхности структур Al0,1Ga0,9N и GaN, полученных при одинаковых условиях. Поверхность струтуры GaN характеризуется малой средней площадью 0,7 мкм2 шестигранных зерен. Среднеквадратичная шероховатость 13,4 нм. Для AlGaN площадь зерен в 25 раз больше и шероховатость составляет 4,8 нм.
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Рудая Н.С.принятаМетодом АСМ исследована поверхность фотокатодов GaAs. Получена топография поверхности в нескольких точках. Определена средняя и среднеквадратичная шероховатость поверхности фотокатодов.
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Альперович В.Л.принятаМетодом АСМ исследована террасированная поверхность образцов GaAs(001) в процессе термического выглаживания.
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Журавлев К.С.принятаВРЭМ поперечных срезов гетеросистем на основе нитридов с пропоподготовкой. Проведены СЭМ-измерения структуры диодов, размеров в процессе изготовления, получены I/V и C/V характеристики на зондовой станции.
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Валишева Н.А.принятаВРЭМ и АСМ исследования морфологии поверхности, и структуры границ раздела в гетеросистеме Au/Ti/n-InAlAs с прбоподготовкой.
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Соколов Л.В.принятаПроведены ВРЭМ исследования поперечных срезов гетеросистем GeSi-Si с пробоподготовкой
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Ищенко Д.В.принятаМетодом АСМ определены толщины и пленок In на поверхности стекол и металлов. Также определена топография и среднеквадратичная шероховатость поверхности пленок In.
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Лямкина А.А.принятаПроведены электронная литография и характеризация (СЭМ, АСМ, ПЭМ) структур на основе GaAs
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Антонов В.А.принятаПроведены СЭМ-исследования пленок алмаза
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Аксенов М.С.принятаПроведены измерения I/V и C/V характеристик приборов BSH на зондовой станции В1500
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Милехин А.Г.принятаПроведены электронная литография и СЭМ-исследования структурированной поверхности кремния с золотом. СЭМ-характеризация зондов для АСМ. ВРЭМ пленок PbS и CdSe.
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Квон Зе ДонпринятаПроведены электронная литография и СЭМ-характеризация структур с затвором и антиточками на базе гетероструктур c GaAs
11.01.2017ФГБУН ИФП СО РАН Миронов А.Ю.принятаПроведены электронная литография и СЭМ-характеризация с предельным разшением структур с антиточками на сверхпроводниках на основе TiN
20.12.2016АО "НЭВЗ-Керамикс" Татарский А.В.принятаПроведена пробоподготовка образца тазобедренного сустава. Выполнены электронно-микроскопические исследования образца эндопротеза с целью определения природы поверхностных включений.
08.12.2016ФГБУН ИК СО РАН Красникова И.В.принятаПроведены электронномикроскопические исследования форм и размеров катализаторов состава NiO-CuO-MgO
05.12.2016ФГБУН ИАиЭ СО РАН Голубцов С.К.принятаМетодом АСМ исследованы периодические структуры из оксида титана на подложке титана, определены характерные размеры структур
20.11.2016ФГБОУ ВО Логинов Ю.Ю.принятаПроведение испытаний опытных образцов кремниевых детекторов на основе сверхчистого кремния
15.11.2016ФГБУН ИТПМ СО РАН Поздняков Г.принятаПроведены электронномикроскопические исследования наноразмерных порошков кремния, карбида кремния и нитрида кремния.
05.11.2016ФГБОУ ВО Зеленков П.В.принятаПроведение испытаний опытных образцов кремниевых p-i-n фотодиодов на основе сверхчистого кремния для радиационно-электрических преобразователей бетаэлектронного излучения изотопа 63Ni
26.10.2016ФГБУН ЛИН СО РАН Бедошвили Е.Д.принятаПроведены электронномикроскопические исследования форм и определение размеров объектов в препаратах тонких и полутонких срезов диатомовых водорослей
10.10.2016ФГБУН ИФПМ СО РАН Полетика Т.М.принятаМетодом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии проведены измерениесостава поверхности сплава NiTi после ионной модификации
05.10.2016ФГБУН ИТ СО РАН Алексеенко С.В.принятаПроведены электронномикроскопические исследования форм и определение размеров микротермопары
01.10.2016ООО "СибИС" Васильев В.Ю.принятаПроведена подготовка поперечных срезов кремниевых субмикронных структур ИМС для высокоразрешающей сканирующей электронной микроскопии. Выполнены ВРЭМ исследования поперечных срезов многослойных структур ИМС. Исследованы состав материалов в срезах.
10.06.2016ФБГУН ИАПУ ДВО СО РАН Галкин Н.Г.принятаПроведена подготовка поперечных срезов кремний-силицидных структур. Проведены ВРЭМ исследования мультислойных структур со встроенными нанокристалллитами бетта-FeSi2. Выполнена расшифровка картин ПМД.