Микроскоп Hitachi SU8220 является многофукциональным современным сканирующим электронным микроскопом с возможностью работы как на отражение так и на просвет.
Прибор оснащен следующими детекторами и опциями:
- LOWER детектор SE
- UPPER детектор SE
- TOP детектор SE
- Вдвижной полупроводниковый BSE-детектор
- Детектор для работы на просвет с доп. диафрагмой
- Полноформатная панель управления.
Дополнительно оснащен детекторами EDX Bruker в составе:
- Вдвижной детектор QUAD.
- Стандартный детектор Quantax 60.
- Марка — Hitachi SU8220.
- Производитель/страна — Hitachi, Япония.
- Основные технические характеристики:
- Разрешение (вторичные электроны) — 0,8 нм при 15 кВ, WD 4 мм 1,1 нм при 1 кВ в режиме торможения электронов.
- Увеличение: низкое х20 - х2,000; высокое х100 - х1 000 000.
- Ускоряющее напряжение — от 0,5 до 30 кВ (0,1 кВ за шаг).
- Электронная Пушка — холодный катод с полевой эмиссией.
- Местонахождение в ЦКП — Отделение cканирующей электронной микроскопии, к. 107.
- Год модернизации — 2015.
- Балансовая стоимость — 78.575 тыс. руб.
- Предоставляемые услуги:
- Исследование морфологии поверхности твердотельных и биологических нанообъектов с определением элементного состава методом сканирующей электронной микроскопии.
- Проведение измерений линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и биологических объектов в нанометровом диапазоне.
- Исследование морфологии и структуры поверхности твердотельных структур и оперативный контроль атомарных поверхностей методами сканирующей туннельной, атомно-силовой и электронной микроскопии.
- Используемые методики:
- Методика количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур с применением сканирующего электронного микроскопа.
