Новости

17.03.2015

Опубликована статья "Combination of surface- and interference-enhanced Raman scattering by CuS nanocrystals on nanopatterned Au structures" A. Milekhin et al. Beilstein J. Nanotechnol. 2015, 6, 749–754.

15.03.2015

Опубликована статья "Attachment–detachment limited kinetics on ultra-flat Si(111) surface under etching with molecular oxygen at elevated temperatures" S.Sitnikov, S. Kosolobov, A. Latyshev. Surface Science 633 (2015) L1-L5.

16.02.2015

Проведены СЭМ исследования морфологии а также элементного состава образца металлической пленки. Заказчик ООО "Кристалин".

25.01.2015

Опубликована статья "Эффективные излучатели одиночных фотонов на основе селективно-позиционированных InAs-квантовых точек и брэгговских микрорезонаторов", В.А. Гайслер и др. ФТП, 49, 1, с 35, 2015.

12.01.2015

Введен в эксплуатацию сканирующий электронный микроскоп Hitachi SU 8220 с аналитическими приставками.

21.12.2014

19 декабря 2014 г. Предс­тав­лен от­чет о вы­пол­нен­ных ра­бо­тах на пер­вом эта­пе Сог­ла­шения № 14.621.21.0004 от «22» ав­густа 2014 г. за пе­риод с 22 ав­гус­та по 31 де­кабря 2014 го­да.

16.12.2014

В рамках международного сотрудничества с Technische Universitat Dortmund - Experimentelle Physik 2 - D44221 Dortmund – Germany, проведены исследования Механизмов рекомбинации и релаксации экситонов в системе квантовых точек InAs, синтезированных в широкозонных матрицах AlGaAs.

23.08.2014

22 августа 2014г. За­клю­че­но Сог­ла­ше­ние с Мин­обр­нау­ки в рам­ках ФЦП «Ис­сле­до­ва­ния и раз­ра­бот­ки по прио­ри­тет­ным нап­рав­ле­ни­ям раз­ви­тия нау­ч­но-тех­но­ло­ги­чес­ко­го комп­лек­са Рос­сии на 2014 – 2020 го­ды" о пре­дос­тав­ле­нии суб­си­дии № 14.621.21.0004 от «22» ав­гус­та 2014 г, те­ма «Под­дер­жка и раз­ви­тие цент­ра кол­лек­тив­но­го поль­зо­ва­ния науч­ным обо­ру­до­ва­нием "НА­НО­СТРУК­ТУ­РЫ" в об­лас­ти ин­дус­трии на­но­сис­тем, ин­фор­ма­ци­он­но-те­ле­ком­му­ни­ка­ци­он­ных сис­тем; транс­порт­ных и кос­ми­чес­ких сис­тем» .

07.02.2014

6 февраля 2014 г. ЦКП "На­ност­рук­ту­ры" по­лу­че­ны но­вые сер­ти­фи­ка­ты на ис­поль­зуе­мые в Цент­ре ме­то­ди­ки.

23.01.2014

В раздел мет­ро­ло­ги­чес­ко­го обес­пе­че­ния до­бав­ле­ны сер­ти­фи­ка­ты о пос­лед­ней ка­либ­ров­ке ис­поль­зуе­мо­го Цент­ром обо­ру­до­ва­ния.