Новости
25.12.2016
16.12.2016
В период с 10 ноября 2016 по 15 декабря 2016 года выполнены исследования экспериментальных образцов субмикронных интегральных микросхем методом сканирующей аналитической электронной микроскопии в рамках прикладного научного исследования по теме «Разработка перспективных технологий и конструкций серии интегральных микросхем мультифункционального контроля и управления источниками вторичного электропитания энергоэффективных светодиодных систем», выполняемого ООО «СибИС» по соглашению № 14.579.21.0089 от 14 ноября 2014 года с Минобрнауки РФ о представлении субсидии в целях реализации федеральной целевой программы «Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2014 - 2020 годы».
20.11.2016
- Ознакомление с приборной и методической базой ЦКП.
- Изготовление поперечных срезов из гетероструктур, содержащих слои нанометровой толщины, для просвечивающей электронной микроскопии c использованием следующего оборудования: Leica EM TXP, PIPS GATAN Model 691, Agar, Minimet 1000, Dimple Grinder GATAN Model 656.
- Исследование изготовленных образцов методом высокоразрешающей электронной микроскопии на микроскопе JEM-4000EX.
- Анализ полученных ВРЭМ изображений.
- Ознакомление с принципами расчета теоретических ВРЭМ изображений.
10.11.2016
29.10.2016
26.06.2016
20.04.2016
Прочитаны лекции о современных методах диагностики и проведены ознакомительные экскурсии для студентов Новосибирских ВУЗов.
31.03.2016
30 марта 2016 г. проведена экскурсия для студентов начальных курсов физического факультета НГУ с целью отбора студентов для прохождения дипломной практики на оборудовании ЦКП.
20.03.2016
Производится установка и наладка системы ионно-лучевой обработки IM150, Oxford Applied Research, UK. Установка позволит предоставлять услуги по прецизионной полировки поверхностей различных образцов широким ионным пучком в высоковакуумных условиях.
18.03.2016
17 марта 2016г. в ИФП СО РАН прошло заседание Объединённого учёного совета СО РАН по нанотехнологиям и информационным технологиям, в рамках которого чл.-к. РАН Латышев Александр Васильевич провел экскурсию по ЦКП «Наноструктуры».