Новости

16.12.2016

В период с 10 ноября 2016 по 15 декабря 2016 года выполнены исследования экспериментальных образцов субмикронных интегральных микросхем методом сканирующей аналитической электронной микроскопии в рамках прикладного научного исследования по теме «Разработка перспективных технологий и конструкций серии интегральных микросхем мультифункционального контроля и управления источниками вторичного электропитания энергоэффективных светодиодных систем», выполняемого ООО «СибИС» по соглашению № 14.579.21.0089 от 14 ноября 2014 года с Минобрнауки РФ о представлении субсидии в целях реализации федеральной целевой программы «Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2014 - 2020 годы».

20.11.2016

В период с 7 по 18 ноября 2016 года была организована стажировка сотрудника Санкт-Петербургского госуниверситета Данилова Д.В. Программа стажировки включала в себя:
  • Ознакомление с приборной и методической базой ЦКП.
  • Изготовление поперечных срезов из гетероструктур, содержащих слои нанометровой толщины, для просвечивающей электронной микроскопии c использованием следующего оборудования: Leica EM TXP, PIPS GATAN Model 691, Agar, Minimet 1000, Dimple Grinder GATAN Model 656.
  • Исследование изготовленных образцов методом высокоразрешающей электронной микроскопии на микроскопе JEM-4000EX.
  • Анализ полученных ВРЭМ изображений.
  • Ознакомление с принципами расчета теоретических ВРЭМ изображений.
Продолжительность курса стажировки составила 60 часов. По окончании стажировки Д.В. Данилову выдан квалификационный сертификат.

10.11.2016

Заключен договор с ООО «СибИС» (г.Новосибирск) на проведение исследований на оборудовании ЦКП образцов экспериментальных интегральных схем на сумму 100000 руб.

29.10.2016

Успешно выполнен и закрыт договор с Институтом автоматики и процессов управления Дальневосточного отделения Российской академии наук 28 октября 2016 г.

26.06.2016

25 июня 2016 г. Заключен договор с Институтом автоматики и процессов управления Дальневосточного отделения Российской академии наук для проведения структурных исследований с использованием оборудования ЦКП по теме «Развитие элементной базы кремниевой фотоники для диапазона длин волн 0.4 – 3.0 мкм» на сумму 190000 руб.

20.04.2016

Прочитаны лекции о современных методах диагностики и проведены ознакомительные экскурсии для студентов Новосибирских ВУЗов.

31.03.2016

30 марта 2016 г. проведена экскурсия для студентов начальных курсов физического факультета НГУ с целью отбора студентов для прохождения дипломной практики на оборудовании ЦКП.

20.03.2016

Производится установка и наладка системы ионно-лучевой обработки IM150, Oxford Applied Research, UK. Установка позволит предоставлять услуги по прецизионной полировки поверхностей различных образцов широким ионным пучком в высоковакуумных условиях.

18.03.2016

17 марта 2016г. в ИФП СО РАН прошло заседание Объединённого учёного совета СО РАН по нанотехнологиям и информационным технологиям, в рамках которого чл.-к. РАН Латышев Александр Васильевич провел экскурсию по ЦКП «Наноструктуры».

05.03.2016

С 29.02.16 по 03.03.16 для ознакомления с оборудованием и обмена опытом работы по подготовке образцов к исследованиям посетил ЦКП"Наноструктуры" Кристофер Марк Толлан, кандидат химических наук, который работает в лаборатории электронной микроскопии научного центра nanoGUNE (Испания).