Новости

01.07.2015

Предс­тав­лен от­чет о вы­пол­нен­ных ра­бо­тах по Сог­ла­ше­нию о пре­дос­тав­ле­нии суб­си­дии № 14.621.21.0004 от 22 ав­гус­та 2014 г. (за 1-ое по­лу­го­дие 2015 го­да).

24.06.2015

Проведены электронномикроскопические исследования керамических микросфер, исследована морфология и элементный состав образцов молотой серы. Заказчик - ООО НПФ "Нанопорошковые технологии".

08.06.2015

Проведены структурные исследования методом сканирующей электронной микроскопии образцов порошков пирофосфатов железа-марганца-лития. Заказчик ИХТТМ СО РАН.

05.06.2015

5 июня 2015 года ЦКП "Наноструктуры" посетил Нобелевский лауреат по физике 2014 года Хироши Амано. Подробнее см. на сайте ИФП СО РАН.

 

05.06.2015

Проведены электронномикроскопические исследования образцов осажденных на поверхность молибдена алмазоподобных покрытий; исследована морфология и определены размеры осажденных наноструктур. Заказчик ФГУБН ИТ СО РАН.

26.05.2015

Опубликована статья "Properties of three-dimensional structures prepared by Ge dewetting from Si(111) at high temperatures" A.Shklyaev et al. J. Appl. Phys. 117, 205303 (2015)

14.05.2015

В рамках международного сотрудничества с Институтом физики полупроводников им. В.Е. Лашкарева НАН Украины, Киев, Украина, проведены исследования Закономерностей формирования фононного спектра полупроводниковых нанокристаллов со структурой ядро/оболочка в условиях сильного пространственного ограничения.

13.04.2015

Опубликована статья "Highly conductive indium nanowires deposited on silicon by dip-pen nanolithography", A.Kozhukhov, A.Klimenko, D.Shcheglov, V.Volodin, N.Karnaeva and Alexander Latyshev, J.Appl.Phys. 117,145305 (2015)

08.04.2015

Выполнены работы по диагностике неисправности вакуумной системы микроскопа Cross Bean 1540 EsB, Carl Zeiss. Заказчик «Нанотехнологии в электронике».

06.04.2015

Методом высокоразрешающей электронной литографии изготовлены тестовые образцы с наноструктурированными диэлектрическими слоями диэлектрика. Заказчик ИТПЭ РАН.