Щеглов Дмитрий Владимирович

ФИО	Щеглов Дмитрий Владимирович
Тема	Атомно-силовая микроскопия для задач субангстремной диагностики и модификации поверхности полупроводников
Описание	Диссертация представлена на соискание ученой степени доктора физико-математических наук по специальности 1.3.8 – физика конденсированного состояния
Автореферат
Текст диссертации (размещён 30.12.2025)
Научный консультант	директор ИФП СО РАН академик РАН, д.ф.-м.н. Латышев А.В.
Оппоненты
Ведущая организация
Заключение комиссии
Решение о приёме диссертации к защите
Объявление о защите диссертации
Отзывы на автореферат
Итоги защиты