Спектральный рефлектометрический комплекс КРС -200
Лаборатория эллипсометрии полупроводниковых материалов и структур.
Характеристика
Спектральный рефлектометрический комплекс КРС-200 предназначен для
измерения интенсивности светорассеяния в прозрачных материалах, таких как,
кристаллы, стекло, жидкости и др. с целью определения концентрации рассеивающих примесей, дефектов структуры, инородных включений и т.д. Кроме того,
рефлектометр может быть использован как спектрофотометр для определения
спектрального пропускания и границ прозрачности образцов оптических материалов. Благодаря использованию встроенного поляризатора может быть измерен
дихроизм и определено наличие двулучепреломления в анизотропных материалах.
Основные параметры прибора
- спектральный диапазон .................................. 200÷1000нм;
- спектральное разрешение .............................. 2нм;
- размеры кюветной камеры ............................. 100×100×160мм;
- минимальные габариты образца .................... 5×5×15мм;
- максимальные габариты образца ................... 90×90×150мм;
- соединение с ПК через порт USB.
Гибкое программное обеспечение, разработанное для ОС Windows 2000/XP обеспечивает управление прибором в различных режимах измерения, получение данных, вывод в численном и графическом виде измеренных спектров, их дальнейший анализ и обработку.
Технико-экономические преимущества
Отечественная промышленность, на сегодняшний день, не выпускает аналитического оборудования для исследований и анализа оптических материалов по параметру объёмного рассеяния. Разработанный комплекс, наряду с решением данной задачи, позволяет определять диапазон прозрачности, наличие и спектр дихроизма, другие параметры, т.е., осуществлять комплексный контроль качества оптических материалов.
Области применения
Оптика, оптоэлектроника, квантовая электроника, фотоника, оптические материалы, а также исследования рассеивающих и мутных сред.
Свернуть