Лаборатория физических основ интегральной микрофотоэлектроники

ПУБЛИКАЦИИ

1992

1. Ковчавцев А.П., Ильенков Я.А., Ковалевская Т. Е. Оценка параметров глубоких уровней в МДП-структурах на основе InAs. Поверхность. Физика, Химия, механика. 1992, 1, 62-69.
2. V.M. Efimov, Z.V. Panova, A.V. Malygin, A.P. Kovchavtsev. Physico-Chemical Properties of Plasma Deposited Silicon Nitride Films. Phys. Stat. Sol. (a), 1992, 129, pp. 483-491.