Лаборатория физических основ интегральной микрофотоэлектроники

ПУБЛИКАЦИИ



1989

  1. Kovchavtsev A.P., Postnikov K.O. Inelastic electron tunnelling spectroscopy of Si MOS Structures with Ultrathin Silica. БЪЛГАРСКА АКАДЕМИЯ НА НАУКИТЕ* Известия по химии, 1989, Том 22, книга 3/4, c. 475-479.