на базе лаб.2 "Эллипсометрия полупроводниковых материалов и структур" и лаб. 16 «МЛЭ Si-Ge и соединений А3В5»
Административный корпус | 18 сентября 2019 г. |
Конференц-зал | Среда, 15 часов |
Прокопьев Виталий Юрьевич
РАЗРАБОТКА И ОПТИМИЗАЦИЯ АВТОМАТИЗИРОВАННЫХ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ ДЛЯ ШИРОКОГО КЛАССА ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКОЙ АППАРАТУРЫ
(по материалам кандидатской диссертации)
Научный руководитель: Швец Василий Александрович.