|
25 мая 2010 г. (вторник) в 14 ч. 30 мин. в термостатированном корпусе ИФП СО РАН по адресу ул. Пирогова д.30 компания Technoinfo (Москва) проведет научно-технический семинар "Современное аналитическое и производственное оборудование" | 14:30 - 15:50 | | ПРОИЗВОДСТВЕННОЕ | | 14:40 - 15:20 | | Плазмохимическое оборудование Oxford Instruments Plasma Technology и реализуемые на нем процессы | - плазменные процессы осаждения/травления (PECVD, RIE (РИТ), ICP-RIE (ИСП-РИТ), PE (ПХТ))
- ионно-лучевое осаждение/травление (IBE, IBS, RIBE, CAIBE/IBS, DIBD)
- атомно-слоевое осаждение (ALD)
- магнетронное напыление
- Гидридная эпитаксия (HVPE)
- выращивание наноструктур
| | 15:20 - 15:35 | | Криогенное оборудование ICEoxford | | Кузнецов Артём | - традиционные проточные криостаты и рефрижераторы растворения
- "безгелиевые" криостаты и рефрижераторы растворения
- криомагнитные системы
| | 15:35 - 15:50 | | Высокотемпературные системы Thermal Technology | | Кузнецов Артём | - системы искрового плазменного спекания
- лабораторные и производственные вакуумные печи и прессы
- системы выращивания кристаллов
| | 16:00 - 17:20 | | АНАЛИТИЧЕСКОЕ | | 16:05 - 16:35 | | Дифрактометрические системы от Oxford Diffraction | | Бредихин Иван | - монокристальные дифрактометры Xcalibur и Gemini с одним источником лли двумя источниками излчения
- Новейшие монокристальные дифрактометры SuperNova с микрофокусными источниками
| | 16:35 - 17:20 | | Методы исследования поверхности | | Бредихин Иван | - Времяпролётная вторично-ионная масспектрометрия (TOF.SIMS)
- Рассеяние медленных ионов - спектроскопия верхнего атомного слоя на примере прибора Qtac 100 (LEIS)
- Семейство рентгеновских фотоэлектронных спектрометров AXIS от фирмы KratosAnalitical (XPS, Auger, UPS)
- Сканирующие электронные микроскопы Nova, Inspect фирмы FEI (SEM, EDX, WDX)
- Просвечивающие электронные микроскопы Morgani, Tecnai, Titan (TEM)
- Двулучевые микроскопы Quanta 3D, Helios (FIB)
|
|
