Отчёт по гранту РФФИ

Отчёт по гранту РФФИ 18-02-00764-а

Оптимизация режима роста нитевидных нанокристаллов A3B5 методом импульсной эпитаксии (проект РФФИ 18-02-00764 а)

Целью проекта является изучение импульсного режима МЛЭ роста нитевидных нанокристаллов (ННК) A3B5 с помощью моделирования методом Монте-Карло и экспериментальный поиск оптимальных условий МЛЭ для получения самокаталитическим методом максимально длинных и однородных по диаметру вдоль оси роста ННК A3B5.

Концентрация мышьяка в капле индия

Зависимость концентрации As в капле и периметра растущего островка от времени

Наблюдаемые типы зарождения

При Монте-Карло моделировании процесса кристаллизации из расплава As-металл III группы на грани конечного размера найдено, что начало зарождения смещено относительно максимума концентрации As в расплаве, а формирование полного слоя не соответствует минимальной концентрации. Это связано с зависимостью интенсивности кристаллизации от длины ступени, в которую встраиваются атомы: при росте грани конечного размера периметр растущего островка немонотонно меняется во времени - сначала растет, а затем, при появлении контакта границ островка с тройной линей, начинает убывать. Наблюдать несоответствие начала зарождения нового слоя максимальной концентрации мышьяка в капле можно лишь в условиях конечной скорости диффузии мышьяка сквозь каплю.

Сравнение длины нитевидных нанокристаллов, полученных в традиционном и импульсном режиме МЛЭ

V – объем капли; L – длина ННК

Использовалось завышенное значение потока индия из-за малой площади модельной подложки, так как диффузионный сбор с подложки определялся не длиной диффузии индия по подложке, а расстоянием между каплями.

Незакрашенные символы – традиционная МЛЭ, закрашенные – импульсная эпитаксия

Прерывание потока мышьяка приводит к увеличению диффузионного потока индия вдоль боковых стенок ННК, что поддерживает размер капли постоянным в течение длительного времени. Это позволяет продлить рост ННК по сравнению с традиционным режимом МЛЭ.

Экспериментальная методика подготовки поверхности для самокаталитического роста ННК GaAs

Экспериментально отработаны режимы формирования и роста эпитаксиальных слоёв Si на поверхности GaAs(111)B.
По данным атомно-силовой микроскопии (АСМ) величина среднеквадратичной шероховатости слоя Si толщиной 6 нм составила 0.23 нм.

Осаждение 5 монослоёв Ga на Si/GaAs(111)B со скоростью 1 МС/с при температуре подложки 500°С.

АСМ изображение эпитаксиального слоя Si на GaAs(111)B с каплями Ga. Плотность капель Ga составляет 2∙108шт/см2.

Отчёт по гранту РФФИ № 16-31-00120 (2016 год)
Исследование механизмов формирования квантовых колец GaAs/AlGaAs методом Монте-Карло моделирования процесса капельной эпитаксии

Целью проекта является исследование роста гетероструктур GaAs/AlGaAs в процессе капельной эпитаксии с помощью решеточного моделирования методом Монте-Карло.

Выбор входных энергетических параметров модели

Энергии активации растворения и кристаллизации Ga на границе раздела жидкий металл-подложка AIIIBV были оценены из температурной зависимости равновесной концентрации As в жидком Ga CAs(T):

Искомые параметры реакции растворения Kdis, Edis align="center" class="namepart" и кристаллизации Kcr, Ecr kэксп, k1, k2 – предэкспоненциальные множители, Eэксп, E1, E2 – энергии активации, определяющие угол наклона экспериментальной и двух модельных температурных зависимостей.

Совпадение расчетной и экспериментальной зависимостей получено при следующих значениях параметров:

Ecr = 1.3 эВ

Kdis = 1015c-1

Ecr = 1.3 эВ

Kcr = 1011c-1

Учет реконструкции (2х1) модельной поверхности (001)

Введение анизотропии диффузии адатомов в решеточную модель

Димеризованная поверхность (вид сверху). Стрелками показаны возможные пути диффузии. Встраивание в димер (путь 1) ограничено энергетическим барьером Einc. Поэтому движение атомов преимущественно происходит вдоль димерных рядов по междурядным промежуткам (путь 2).

Анизотропия формы растущих островков

Зарождение островков нового слоя происходит за счет образования димерной пары и прибавления к ней новых пар в виде димерного ряда. Рассматриваются два возможных положения атома относительно уже имеющегося островка (1 и 2). Для атома в этих положениях задается разная энергия связи – положение 1 энергетически более выгодно, чем 2.

Учет димеризации позволил стабилизировать исходную ростовую поверхность и наблюдать при моделировании анизотропию диффузии адатомов и анизотропию формы растущих островков.

Кинетика роста островков , формирующихся на димеризованной поверхности Si(001) при T=500 K и потоке атомов Si FSi=10-4 МС/с.

t=0 c

t=240 c

t=3200 c

При осаждении Si на димеризованную поверхность Si(001) происходит зарождение островков монослойной высоты. Ориентация димеров островков перпендикулярна ориентации димеров исходной поверхности, что согласуется с экспериментальными наблюдениями [Y.W. Mo, J. Kleiner, M.B. Webb, M.G. Lagally. Phys. Rev. Lett., 1991, 66, pp. 1998-2001.].

Кинетика формирования кольца GaAs на подложке AlGaAs(001)

Процесс капельной эпитаксии состоит из двух этапов: 1) осаждение элемента III группы (Ga/In) с образованием жидких капель на ростовой поверхности; 2) осаждение мышьяка при выключенном потоке элемента группы III, приводящее к кристаллизации капель в виде различных наноструктур A3B5. На данном этапе проекта была исследована кинетика формирования кольца GaAs на подложке AlGaAs (001).

t = 10 c Вид сбоку
Вид сверху
t = 70 c
t = 225 c
Фрагмент модельной поверхности длиной 62 нм

T = 600 К, FAs2 = 0.02 МС/с, диаметр исходной капли Ga d0 = 28 нм, расстояние между каплями L = 190 нм.

Исходное состояние системы – мышьяк стабилизированная подложка с каплей Ga- в центре и Ga-стабилизированной областью вокруг нее. Размер Ga-стабилизированной области определяется длиной диффузии атомов галлия из капли. Сразу после включения потока мышьяка наблюдается зарождение внутреннего и внешнего колец. Внутреннее кольцо формируется вдоль тройной линии (вдоль границы раздела трех фаз пар-жидкость-кристалл). На стыке Ga- и As-стабилизированных областей зарождается внешнее кольцо GaAs. Внутреннее кольцо формируется за счет поступления мышьяка с поверхности капли к тройной линии, а внешнее – за счет сбора мышьяка с As-стабилизированной области подложки. Если расстояние между каплями было меньше, чем длина диффузии галлия по поверхности, то внешнее кольцо GaAs не формировалось вследствие отсутствия As-стабилизированной области.

Отчёт по гранту РФФИ 16-31-00120 мол-а
Исследование механизмов формирования квантовых колец GaAs/AlGaAs методом Монте-Карло моделирования процесса капельной эпитаксии

Целью проекта является исследование роста гетероструктур GaAs/AlGaAs в процессе капельной эпитаксии с помощью решеточного моделирования методом Монте-Карло.

Процесс капельной эпитаксии состоит из двух этапов: 1) осаждение элемента III группы (Ga/In) с образованием жидких капель на ростовой поверхности; 2) осаждение мышьяка при выключенном потоке элемента группы III, приводящее к кристаллизации капель в виде различных наноструктур A3B5.

Модельная система

Сравнение результатов Монте-Карло моделирования для 2D- и 3D-системы

Двойное кольцо более ярко выражено для 2D-системы, чем для 3D-системы при заданных ростовых условиях (T=620 K, FAs2=0.1 MС/с). В 3D случае внешнее кольцо располагается ближе к положению исходной капли галлия, по сравнению с 2D.

Профиль поверхностной концентрации галлия

Исходное состояние системы – подложка AlGaAs(001) с каплей Ga- в центре. Вокруг капли формируется и Ga-стабилизированная область, размер которой определяется длиной диффузии атомов галлия из капли λdif_Ga. Возникают две области усиленного сбора мышьяка: с поверхности капли к тройной линии и с As-стабилизированной поверхности к границе с Ga-стабилизированной областью. В этих областях начинается рост колец GaAs. Внутреннее кольцо формируется вдоль тройной линии, а внешнее кольцо вдоль границы между Ga- и As-стабилизированными поверхностями. Радиусы внутреннего и внешнего колец определяются размером капли и λdif_Ga, соответственно. Если λdif_Ga достаточно мала (при низких температурaх), внешнее и внутренние кольца сливаются и получается одинарное кольцо.

Влияние температуры на морфологию наноструктур Кинетика формирования кольца GaAs на подложке AlGaAs(001)

Сечения модельной поверхности после кристаллизации капли галлия в потоке As2

FAs2 = 0.1 МL/s, диаметр исходной капли Ga d0 = 30 nm, расстояние между каплями L=180 nm

В зависимости от T наблюдалось разнообразие форм растущих наноструктур: кристаллический кластер, одинарное и двойное кольца и тонкий слой GaAs с неглубоким наноотверстием.

Размер в направлении Z увеличен в 5 раз

T = 560 К, FAs2 = 0.02 МС/с, d0 = 30 нм, L = 140 нм.

Краткий отчёт РФФИ за 2016 год (14-02-00776а)
Формирование наноструктур А3В5 по механизму пар-жидкость-кристалл

Используя предложенную на предыдущих этапах проекта Монте-Карло (МК) модель формирования наноструктур на основе соединений А3В5, изучалось преобразование поверхности подложек во время высокотемпературных отжигов.

Высокотемпературный отжиг в равновесных условиях

Из согласования модельной и экспериментальной температурной зависимости равновесного давления In и As2 над раствором-расплавом индия проведена оценка энергии активации десорбции In и As2. Энергия десорбции жидкого индия включает в себя энергии ковалентных связей, определяющих поверхностное натяжение капли, и барьер на сублимацию жидкого индия. Десорбция молекулярного мышьяка зависит от энергий связи As2 поверхностью жидкости, барьера на сублимацию молекулы, и концентрации As2 на поверхности. Поверхностная концентрацией молекулярного мышьяка, в свою очередь зависит от энергий растворения и диффузии атомарного мышьяка в жидком индии и энергий активации реакций диссоциации и образования As2.

Температурная зависимость равновесного давления In и As2 над раствором-расплавом индия с мышьяком Сечения модельной системы

Энергии активации десорбции In и As2 составили Edes(In) = 2.2 эВ, Edes(As2) = 3.4 эВ

В латеральных направлениях – циклические граничные условия

Ленгмюровское испарение InAs

Поверхность (111)А Поверхность (111)В

T = 660 К

T = 640 К

Конгруэнтное испарение

T = 680 К

T = 660 К

Неконгруэнтное испарение

Длина террас L = 40 нм
Ширина террас W = 20 нм

При конгруэнтном испарении наблюдалось послойное испарение, сопровождающееся движением ступеней, при этом скорости десорбции мышьяка и индия были одинаковы.

При высоких температурах (Т > Тс) испарение мышьяка интенсивнее, чем испарение индия, избыточный индий собирается в капли.

Разные значения температуры конгруэнтного испарения Тс на поверхностях InAs(111)А и InAs(111)В: Тс(111)А > Тс(111)В

InAs(111)B

Tcмодель > Tcэксперимент
660 K 633 K
[S. Kanjanachuchai, P. Photongkam, J.Cryst. Gr. Des. 2015, 15, 14-19]

Зависимость температуры конгруэнтного испарения от ширины и длины террасы

Длина террас - L
ширина террас - W

Зависимость температуры конгруэнтного испарения от концентрации поверхностных дефектов (бислойных вакансионных островков)

nisl - плотность бислойных вакансионных островков

Ленгмюровское испарение GaAs

T = 950 К

17×35 нм2

GaAs(111)A

GaAs (111)В

  • На поверхности GaAs[111]A образуется шероховатый след после капли
  • На поверхности GaAs[111]B след после движения капли не образуется

Энергии активации десорбции Ga и As2 при отжиге материала в равновесных условиях составили Edes(Ga) = 2.6 эВ, Edes(As2) = 4.1 эВ, соответственно, что согласуется с литературными данными.

Зависимость Тс от ширины террас должна наблюдаться в реальных экспериментах по отжигу вицинальных подложек.

Наличие вакансионных островков на поверхности приводит к возрастанию концентрации адатомов индия и, следовательно, повышает вероятность образования капли. Поэтому, при рассмотрении идеальной модельной поверхности, получаемая температура конгруэнтного испарения будет несколько завышена.

Самокаталитический рост InAs ННК

Эффект выравнивания капель в процессе самокаталитического роста ННК

МК моделирование

Размеры всех капель растут со временем, так как радиусы всех исходных капель меньше критического радиуса Rc.

Аналитическая модель выравнивания капель в процессе роста ННК [V.G. Dubrovskii, et.al. Nanoletters, 15, 5580-5584, 2015].

– равновесный радиус капли

FIn – поток индия,
S – площадь подложки,
R – радиус капли,
ΩInAs – элементарный объём InAs,
dL/dt – аксиальная скорость роста ННК.

до роста ННК

t = 45 s

Зависимость объема капли In от времени роста для разных размеров исходных капель

до роста ННК t = 38 с

Самая маленькая капля исчезает в процессе роста из-за дефицита индия, возникшего благодаря присутствию рядом большой капли.

Изменение размера одиночной капли в процессе роста

Рост одиночного ННК

Наблюдается тенденция к выравниванию размеров капель, однако стационарный размер капли, зависит от ее исходного размера.
Скорость роста различна для ННК с разными исходными размерами капель. Это различие можно объяснить разной концентрацией мышьяка в каплях разных размеров.

В модели концентрация As в капле зависит о соотношения между вероятностями распада As2 и диффузии As2 по поверхности капли. Если λAs2 длина диффузии As2 по поверхности жидкого индия сравнима с диаметром капли, то заметная доля As2 покидает поверхность капли. Для больших и малых капель это доля различна.

Эффект самовыравнивания

Уменьшение Ediss энергетического барьера на распад As2 уменьшает длину диффузии мышьяка по поверхности жидкой капли, что приводит к практически полному растворению осажденного мышьяка в капле.
При низком барьере на распад As2 на поверхности жидкого индия наблюдается практически полное согласие L(t) зависимостей для большой и малой капель, а зависимости объемов капель от времени роста сходятся к одному стационарному значению.

Формирование наноколец методом капельной эпитаксии

Технология капельной эпитаксии представляет собой последовательное осаждение методом МЛЭ элементов III и V группы. При формировании GaAs наноструктур на поверхность GaAs, сначала осаждается Ga, что приводит к формированию капель, а затем, для их кристаллизации осаждается только мышьяк.

Методом капельной эпитаксии получают наноструктуры GaAs с самой разной морфологией. Причем, форма кристаллических структур определяется температурой и давлением мышьяка в ростовой камере.

T=600 K, FAs2 = 0.1 МС/с, d0 = 20 нм, L = 80 нм

Одиночное кольцо

Результаты моделирования одиночного кольца согласуются с экспериментом [T. Mano, T. Kuroda, S. Sanguinetti, T. Ochiai, T. Tateno, J. Kim, T. Noda, M. Kawabe, K. Sakoda, G.Kido, N. Koguchi. Nano Lett., 5, 425-428 (2005)].

Одиночные и двойные кольца формируются в едином ростовом процессе при постоянных температуре и давлении мышьяка.

В ходе выполнения проекта проанализированы процессы ответственные за формирование кольцевых структур и описаны условия необходимые для создания двойных колец.

Зависимость морфологии наноколец от расстояния между каплями

Moдельная система

L>>W

Для уменьшения времени вычислений модельная поверхность была выбрана в виде узкой полоски, содержащую по центру каплю галлия.

Скорость нарастания материала в системе с избытком галлия определяется скорость поступления мышьяка. Наличие As-стабилизированной области на подложке обеспечивает дополнительный сбор мышьяка на границу между Ga- и As-стабилизированными поверхностями.

Зависимость морфологии нанокольца от интенсивности потока

При низких потоках диффузионная длина галлия велика и поэтому образуется только одно кольцо. С увеличением интенсивности потока уменьшается длина диффузии галлия и это приводит к формированию двойного кольца. Дальнейшее увеличение потока приводит к слиянию внешнего и внутреннего колец.

Был проведен анализ кинетики формирования одиночного кольца в условиях, когда расстояние между каплями чуть больше удвоенной длины диффузии галлия по поверхности. Сразу после включения потока мышьяка сначала зарождалось внутреннее кольцо вдоль тройной линии и происходил рост пленки GaAs на расстоянии, равном длине диффузии галлия, определяемой внешним потоком мышьяка. Остальная часть поверхности становилась As-стабилизированной. Со временем уменьшался размер галлиевой капли, что приводило к увеличению площади As-стабилизированной поверхности, и увеличению диффузионного сбора мышьяка с подложки ик уменьшению ldifGa, то есть длина диффузии галлия постепенно уменьшалась со временем, что сдвигало внешнее кольцо в направлении к капле.

Влияние температуры на морфологию наноструктур

Структура ядро-оболочка наблюдалось экспериментально [Reyes K., Smereka P., Nothern D., Millunchick J. M., Bietti S., Somaschini C., Sanguinetti S., Frigeri C. Phys. Rev. B. 87, 165406 (2013)].

Изменять соотношение между L и l можно не только потоком мышьяка, но и температурой. Так как диффузионные характеристики галлия экспоненциально зависят от температуры, то даже небольшое изменение температуры приводит к заметному изменению морфологии наноструктуры. Видно, что при понижении температуры с 600 K до 500 K вместо двойного кольца формируется структура ядро-оболочка.

Tройные концентрические нанокольца

Изменение температуры либо потока мышьяка в процессе кристаллизации капель позволяет формировать несколько колец, больше двух.

Таким образом, было продемонстрировано, что тип формируемых колец зависит от длины диффузии галлия по поверхности (ldiff_Ga), определяемой температурой и потоком мышьяка и расстоянием между каплями.

Список публикаций по проекту в 2016 г:

  1. М. А. Василенко, А. Г. Настовьяк, И. Г.Неизвестный, Н. Л. Шварц, Изучение процесса формирование наноструктур А3В5 методом капельной эпитаксии (Монте-Карло моделирование), Автометрия, Т.52, №5, С. 111-121 (2016).
  2. A.G. Suprunets, M.A. Vasilenko, N.L. Shwartz. Self-catalyzed GaAs and InAs nanowire growth (Monte Carlo simulation). J. Phys.: Conference Series. V. 690. p. 012011 (2016).
  3. N. Shwartz, M. Vasilenko, M. Nesterenko, I. Neizvestny. Analysis of GaAs nanostructure formation according to vapor-liquid-solid mechanism. Proceedings of International Conference Nanomeeting - 2015. “Physics, Chemistry and Application of Nanostructures” Minsk, Belerus, 26–29 May, 2015, p.334-337.
  4. A.G. Nastovjak, I.G. Neizvestny, A.G. Suprunets, N.L. Shwartz. Peculiarities of self-catalyzed growth of dense InAs nanowire array - Monte Carlo simulation . Proceedings of the 24th Int. Symp. “Nanostructures: Physics and Technology” St.Petersburg, Russia, June 27–Yuly 1, 2016, p.53-54. Published by St.Peterburg Academic University, 2016, ISBN 978-5- 7422-5323-5.
  5. M. A. Vasilenko, Nataliya L. Shwartz. Monte Carlo Simulation of GaAs Nanorings Formation by Droplet Epitaxy. 17th International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices EDM 2016: Conference Proceedings, 2016, June 30–Yuly 4, 2016, ISBN 978-1-5090-0785-1, р.3-7.
  6. Настовьяк А.Г., Спирина А.А., Шварц Н.Л. Моделиорование процесса Ленгмюровского испарения InAs методом Монте-Карло. VII Международная научная конференция «Актуальные проблемы физики твердого тела» ФТТ-2016, 22-25 ноября 2016 г. Минск, НПЦ НАН Беларуси по материаловедению. сб. докл. С.217_219. :2016). В3 т. Т.1. / ГНПО «ГНПЦ НАН Беларуси по материаловедению»; ред. колл.: Н.М. Олехнович [и др.]. – Минск : Ковчег, 2016. –278 с. ISBN 978-985-7162-48-2.
  7. А. А. Спирина, Алла Г. Настовьяк, Наталия Л. Шварц. Моделирование процессов отжига подложек InAs методом Монте-Карло. Труды 1-й ежегодной российской национальной конференции по нанотехнологиям, наноматериалам и микросистемной технике. НМСТ-2016, Седова Заимка, Новосибирск, 26-29 июня 2016, Изд-во НГТУ, ISBN: 978-5-7782-2849-8, С.33-37.
  8. А. Г. Супрунец, Наталия Л. Шварц . Монте-Карло Моделирование эффекта выравнивания диаметров нитевидных нанокристаллов InAs в процессе самокаталитического роста. Труды 1-й ежегодной российской национальной конференции по нанотехнологиям, наноматериалам и микросистемной технике. НМСТ-2016, Седова Заимка, Новосибирск, 26-29 июня 2016, Изд-во НГТУ, ISBN: 978-5-7782-2849-8, С. 29-32.
  9. N.L.Shwartz, M.A. Vasilenko, A.G. Nastovjak, I.G. Neizvestny. Kinetic Monte Carlo simulation of droplet epitaxial GaAs nanorings growth. E-MRS Fall Meeting, 19-22 Sept/ 2016. Abstracts, Symposium U, Computer modelling in nanoscience and nanotechnology: an atomic-scale perspective IV | EMRS, U.2.3, http://www.european-mrs.com/computer-modelling-nanoscience-and-nanotechnology-atomic-scale-p)
  10. Н.Л. Шварц. Механизмы формирования наноструктур AIIIBV. Материалы 15-й Международной научной конференции-школы «Материалы нано- микро-, оптоэлектроники и волоконной оптики: физические свойства и применение» Саранск, 11 октября–14 октября 2016 г.- Саранск: Изд.-во Мордов.ун-та, 2016. – 228 с., с.24. ISBN 978-5- 7103-3275-7.
  11. А.А. Спирина, А.Г. Настовьк, Н.Л. Шварц. Моделирование процесса отжига полупроводников AIIIBV методом Монте-Карло. 18-я Всероссийская молодежная конференция по физике полупроводников и наноструктур, полупроводниковой опто- и наноэлектронике, Санкт-Петербург, 28 ноября– 2 декабря 2016 г. С. 26. Тезисы докладов — Изд. Политехнического университета. СПб, 2016, Тезисы докладов — Изд. Политехнического университета. СПб, 2016, 146 с., С. 42.
  12. Анна А. Спирина, Алла Г. Настовьяк, Наталья Л. Шварц. Моделирование процессов отжига подложек арсенида индия в равновесных и неравновесных условиях методом Монте-Карло. Тезисы докладов Шестой Всероссийской конференции по наноматериалам. НАНО 2016, Москва, 22-25 ноября 2016г., С. 200-201. Сборник материалов – М.: ИМЕТ РАН, 2016, 688с