Голяшов Владимир Андреевич

Дата рождения: 09.09.1989
Вуз (дата окончания): НГУ (2013)
Год поступления в аспирантуру: 2013
Форма обучения: очная
Направление подготовки: 03.06.01 - "Физика и астрономия"
Специальность: 01.04.10 - "Физика полупроводников"
Тема диссертации: Электрофизические свойства кристаллов халькогенидов и халькогалогенидов висмута и сурьмы, выращенных методом Бриджмена
Научный руководитель: д.ф.-м.н., профессор Терещенко Олег Евгеньевич
Лаборатория: Лаб. №37
E-mail:

Публикации:

Статьи в рецензируемых научных журналах:

НазваниеПервая страница
V.V. Atuchin, V.A. Golyashov, K.A. Kokh, I.V. Korolkov, A.S. Kozhukhov, V.N. Kruchinin, I.D. Loshkarev, L.D. Pokrovsky, I.P. Prosvirin, K.N. Romanyuk, O.E. Tereshchenko. Crystal growth of Bi2Te3 and noble cleaved (0001) surface properties. // Journal of Solid State Chemistry 236, 203–208 (2016).
T. Bathon, S. Achilli, P. Sessi, V.A. Golyashov, K. A. Kokh, O. E. Tereshchenko, and M. Bode, Experimental Realization of a Topological p–n Junction by Intrinsic Defect Grading. // Adv. Mater., 28: 2183–2188. doi:10.1002/adma.201504771 (2016).
M.S. Aksenov, A.Yu. Kokhanovskii, P.A. Polovodov, S.F. Devyatova, V.A. Golyashov, A.S. Kozhukhov, I.P. Prosvirin, S.E. Khandarkhaeva, A.K. Gutakovskii, N.A. Valisheva, O.E. Tereshchenko, InAs-based metal-oxide-semiconductor structure formation in low-energy Townsend discharge. // Applied Physics Letters 107, 173501 (2015).
O.E. Tereshchenko, V.A. Golyashov, S.V. Eremeev, I. Maurin, A.V. Bakulin, S.E. Kulkova, M.S. Aksenov, V.V. Preobrazhenskii, M.A. Putyato, B.R. Semyagin, D.V. Dmitriev, A.I. Toropov, A.K. Gutakovskii, S.E. Khandarkhaeva, I.P. Prosvirin, A.V. Kalinkin, V.I. Bukhtiyarov, A.V. Latyshev. Ferromagnetic HfO2/Si/GaAs interface for spin-polarimetry applications. // Applied Physics Letters 107, 123506 (2015).
N.A. Valisheva, M.S. Aksenov, V.A. Golyashov, T.A. Levtsova, A.P. Kovchavtsev, A.K. Gutakovskii, S.E. Khandarkhaeva, A.V. Kalinkin, I.P. Prosvirin, V.I. Bukhtiyarov, and O. E. Tereshchenko. Oxide-free InAs(111)A interface in metal-oxide-semiconductor structure with very low density of states prepared by anodic oxidation. // Applied Physics Letters (2014) 105, 161601.
K.A. Kokh, S.V. Makarenko, V.A. Golyashov, O.A. Shegai and O.E. Tereshchenko. Melt growth of bulk Bi2Te3 crystals with a natural p–n junction. // CrystEngComm (2014) 16, 581-584.
A. M. Shikin, I. I. Klimovskikh, S. V. Eremeev, A. A. Rybkina, M. V. Rusinova, A. G. Rybkin, E. V. Zhizhin, J. Sánchez-Barriga, A. Varykhalov, I. P. Rusinov, E. V. Chulkov, K. A. Kokh, V. A. Golyashov, V. Kamyshlov, and O. E. Tereshchenko. Electronic and spin structure of the topological insulator Bi2Te2.4Se0.6. // Phys. Rev. B (2014) 89, 125416.
V. A. Golyashov, K. A. Kokh, S. V. Makarenko, K. N. Romanyuk, I. P. Prosvirin, A. V. Kalinkin, O. E. Tereshchenko, A. S. Kozhukhov, D. V. Sheglov, S. V. Eremeev, S. D. Borisova, and E. V. Chulkov. Inertness and degradation of (0001) surface of Bi2Se3 topological insulator. // J. Appl. Phys. 112 (2012), 113702.
Н.А. Валишева, О.Е. Терещенко, И.П. Просвирин, А.В. Калинкин, В.А. Голяшов, Т.А. Левцова, В.И. Бухтияров. Формирование анодных слоев на InAs(111)A. Исследование химического состава. // Физика и техника полупроводников, 46:4 (2012), c. 569-575.
V.V. Atuchin, V.A. Golyashov, K.A. Kokh, I.V. Korolkov, A.S. Kozhukhov, V.N. Kruchinin, S.V. Makarenko, L.D. Pokrovsky, I.P. Prosvirin, K.N. Romanyuk, and O.E. Tereshchenko. Formation of inert Bi2Se3(0001) cleaved surface. // Cryst. Growth Des. 11 (2011), pp 5507–5514
О.Е. Терещенко, К.А. Кох, В.В. Атучин, К.Н. Романюк, С.В. Макаренко, В.А. Голяшов, А.С. Кожухов, И.П. Просвирин, А.А. Шкляев. Стабильность поверхности (0001) топологического изолятора Bi2Se3. // Письма в ЖЭТФ, 94:6 (2011), c. 500–503.

Труды конференций:

НазваниеОбложкаПервая страница
В.А. Голяшов, К.А. Кох, О.Е. Терещенко. Транспортные свойства топологических изоляторов Bi2Te3 и BixSb2-xTe3 с p-n переходом. Материалы XX международного симпозиума «Нанофизика и наноэлектроника», том 2, стр. 539-540. Нижний Новгород, 14-18 марта 2016.
В.А. Голяшов, А.А. Родионов, И.Б. Чистохин, А.С. Ярошевич, Т.С. Шамирзаев, И.А. Деребезов, В.А. Гайслер, А.К. Бакаров, Д.В. Дмитриев, А.И. Торопов, И.И. Мараховка, А.В. Копотилов, Н.В. Кислых, В.В. Аксенов, О.Е. Терещенко. Полупроводниковый спин детектор с пространственным разрешением. Материалы XX международного симпозиума «Нанофизика и наноэлектроника», том 2, стр. 541-542. Нижний Новгород, 14-18 марта 2016.
В.А. Голяшов, К.А. Кох, О.Е. Терещенко. Транспортные свойства топологических изоляторов Bi2Te3 и BixSb2-xTe3 с p-n переходом. XXI Уральская международная зимняя школа по физике полупроводников. Программа и тезисы докладов, стр. 199-200. Екатеринбург, 15 - 20 февраля, 2016.
О.Е. Терещенко, М.С. Аксенов, В.А. Голяшов, Н.П. Степина, В.В. Кириенко, Л.В. Бондаренко, А.Ю. Тупчая, Д.В. Грузнев., А.А. Саранин. Спин-поляризованные состояния в системе Bi/InAs(111)A. XXI Уральская международная зимняя школа по физике полупроводников. Программа и тезисы докладов, стр. 87-88. Екатеринбург, 15 - 20 февраля, 2016.
В.А. Голяшов, К.А. Кох, О.А. Шегай, О.Е. Терещенко. p-n переход в объеме и на поверхности топологических изоляторов Bi2Te3 и BixSb2-xTe3. XII Российская конференция по физике полупроводников. Тезисы докладов, стр. 207. Звенигород, Московская область, 21-25 сентября, 2015.
О.Е. Терещенко, В.А. Голяшов, И.Б. Чистохин, Т.С. Шамирзаев, А.С. Ярошевич, В.А. Гайслер, А.К. Бакаров, Д.В. Дмитриев, А.И. Торопов, А. Копотилов, Н.В. Кислых. Инжекция свободных спин-поляризованных электронов в гетероструктуры на основе A3B5. XII Российская конференция по физике полупроводников. Тезисы докладов, стр. 320. Звенигород, Московская область, 21-25 сентября, 2015.
О.Е. Терещенко, В.А. Голяшов, К.А. Кох, И.И. Климовских, А.М. Шикин, С.В. Еремеев, Е.В. Чулков. Формирование комбинированной электронной структуры спин-поляризованных поверхностных состояний Дирака и Рашбы. XII Российская конференция по физике полупроводников. Тезисы докладов, стр. 200. Звенигород, Московская область, 21-25 сентября, 2015.

Личное участие в конференциях:

НазваниеОбложка тезисовОбложка программыВремя выступленияПервая страница
В.А. Голяшов, К.А. Кох, О.Е. Терещенко, Транcпортные свойства топологических изоляторов Bi2Te3 и BixSb2-xTe3 с p-n переходом, XX международный симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника», Нижний Новгород, 14-18 марта 2016, стендовый доклад
В.А. Голяшов, К.А. Кох, О.Е. Терещенко, Транcпортные свойства топологических изоляторов Bi2Te3 и BixSb2-xTe3 с p-n переходом, XXI Уральская международная зимняя школа по физике полупроводников, Екатеринбург, 15 - 20 февраля 2016, устный доклад
В.А. Голяшов, К.А. Кох, О.А. Шегай, О.Е. Терещенко, p-n переход в объеме и на поверхности топологических изоляторов Bi2Te3 и BixSb2-xTe3, XII Российская конференция по физике полупроводников, Звенигород, Московская область, 21-25 сентября 2015, стендовый доклад
В.А. Голяшов, В.В. Преображенский, М.А. Путято, Б.Р. Семягин, Д.В. Дмитриев, А.И. Торопов, М.С. Аксенов, Н.А.Валишева, И.П. Просвирин, А.В. Калинкин, В.И. Бухтияров, А.В. Бакулин, С.Е. Кулькова, О.Е. Терещенко, Гетероструктуры HfO2/Si/GaAs(001) для оптических спин-детекторов, Конференция и школа молодых учёных по актуальным проблемам физики полупроводниковых структур, Новосибирск, 15-18 сентября 2014, стендовый доклад

Личные достижения (дипломы, гранты, награды, сертификаты, именные стипендии):

  1. В 2015 г. участвовал в конкурсе и получил стипендию ИФП СО РАН для молодых учёных. Название работы: «Модификация электронной структуры поверхности (0001) BiTeI»

Участие в грантах:

  1. Руководитель гранта РФФИ 16-32-00637_мол_а

Дополнительная информация по научной деятельности:

1) Поездка на синхротрон BESSY (Берлин, Германия), Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, 05.12-15.12.2014.
2) Поездка на синхротрон MaxIV Lab (Лунд, Швеция), Lund University. 01.09-09.09.2014

Отчёты о выполнении НИР:

1-й семестр:

Методами фотоэлектронной спектроскопии и сканирующей туннельной микроскопии было изучено влияния прогревов в вакууме на структуру и электронные свойства поверхности (0001) полупроводника BiTeI, имеющего гигантское расщепление Рашбы. Установлено, что при прогреве BiTeI в вакууме при температурах 300-450 OС идет сублимация атомов I с поверхности, и, вследствие изменения стехиометрического состава поверхностного слоя, в поверхностных слоях происходит структурный фазовый переход с образованием, предположительно, квинтислоев Bi2Te2I. При этом наблюдается изменение зонной структуры поверхности с формированием поляризованных по спину поверхностных состояний Дираковского типа и сохранением гигантского расщепления Рашбы в объеме.