Характеристика
Аналитический комплекс "ЭЛЛИПС-АМ" предназначен для нанодиагностики поверхности шероховатых, неоднородных и анизотропных материалов и слоистых наноструктур методом полной эллипсометрии. Работа комплекса основана на измерения полного вектора Стокса или 16 элементов матрицы Мюллера, которые дают исчерпывающую информацию об оптических свойствах анизотропной, а также несовершенной диффузно-ассеивающей поверхности деполяризующих материалов применяемых в наноиндустрии.
Основные технические характеристики прибора:
| Погрешность определения элементов матрицы Мюллера, не хуже | 0,002 |
| Время полного измерения матрицы, не более | 5 сек |
| Диаметр зондирующего пятна на образце, не более | 3 мм |
| Размеры, не более | 800×400×300 мм |
| Вес, не более | 30 кг |
| Питание | 220 В/50Гц |
Технико - экономическое преимущество
Разработанный комплекс наряду с традиционными задачами эллипсометрического измерения оптических констант и толщин пленок оптически гладких и изотропных объектов позволяет проводить измерения на образцах, обладающих нелинейными оптическими свойствами, а также анизотропной внутренней и поверхностной структурой и развитой поверхностью, которые практически не могут быть характеризованы классическими методами оптической эллипсометрии. Отечественной промышленностью на сегодняшний день данный класс приборов не выпускается.
Области применения
Научные учреждения, а также предприятия производители, занимающиеся научно-исследовательскими задачами в области создания современных материалов для нанотехнологий. Солнечные элементы, пористые пленочные структуры, объекты нелинейной оптики, кристаллофизика, нанобиология и т.д.
![[Центр коллективного пользования]](/img/logo-ckp.gif){kind=logo}
![[Контакты]](/img/contacts.gif)
![[Служба webmail]](/img/webmail_new.gif)
![[Библиотека]](/img/lib_new.jpg)
![[Закупки]](/img/gos.gif)