Т.И. Батурина, А.К. Гутаковский, А.В. Латышев, D. Kalok, Ante Bilušić, V.M. Vinokur, M.R. Baklanov, C. Strunk
Лаборатория физики и технологии структур на основе полупроводников А3В5.
Лаборатория нанодиагностики и нанолитографии.
Universität Regensburg, Germany.
IMEC, Leuven, Belgium.
Argonne National Laboratory, USA.