В.А.Гайслер, А.И.Торопов, А.К.Бакаров, А.К.Калагин, И.А.Деребезов, А.С.Ярошевич, Д.В.Щеглов, А.В.Гайслер, А.В.Латышев
Лаборатория нанодиагностики и нанолитографии.
Лаборатория молекулярно-лучевой эпитаксии полупроводниковых соединений А3В5.
На установке "Riber-C21" проведен цикл экспериментов по росту структур с
InGaAs квантовыми точками. Разработана технология МЛЭ формирования
массивов квантовых точек для излучателей одиночных фотонов с длиной волны
излучения ~ 1.3 мкм, соответствующей телекоммуникационному стандарту.
 Рис.1. Данные атомно-силовой микроскопии
и спектры фотолюминесценции для
выращенных структур с InGaAs квантовыми точками.
|
Показано, что технология обеспечивает получение квантовых с низкой плотностью
~109 см
-2 и длиной волны излучения вплоть до 1.4 мкм при комнатной температуре,
что задает необходимую длину волны
излучения 1.3 мкм при пониженной
температуре (Рис. 1).
Разработана конструкция излучателя
одиночных фотонов с токовой
накачкой, соответствующая телекомму никационному стандарту 1.3 мкм.
Структуры излучателей содержат
легированные брэгговские зеркала на
основе GaAs/Al0.9Ga0.1As с числом
периодов 12 и 4 для плотного и выходно го зеркала, соответственно, что обеспе чивает добротность микрорезонатора
для фундаментальной моды на уровне
Q 120 и задает параметр внешней квантовой эффективности однофотонного излучателя ~30% при использовании оксидной апертуры с диаметром ~1
мкм. Фактор Пурселла составляет FP ≈ 2.5, что обеспечивает снижение времени спонтанной эмиссии экситона и
повышение быстродействия излучателя одиночных фотонов.
На Рис. 2 представлены спектр отражения разработанной структуры (Рис. 2а), содержащий резонанс на
требуемой длине волны 1300 нм, а также распределение электрического поля
световой волны E2(z) и профиль показателя преломления n(z) в микрорезонаторе
(Рис. 2б).
Рис. 2 а) Спектр отражения разработанной структуры с резонансной длиной волны 1.3
мкм. б); Распределение электрического поля световой волны E2(z) и профиль показателя
преломления n(z) в микрорезонаторе.