Т.И.Батурина, А.Ю.Миронов, В.М.Винокур, Н.М.Щелкачев, A.Glatz, Д.А.Насимов, А.В.Латышев
Лаборатория физики и технологии структур на основе полупроводников А3В5.
Лаборатория технологии эпитаксии из молекулярных пучков соединений А2В6.
Лаборатория нанодиагностики и нанолитографии.
Materials Science Division, Argonne National Laboratory, Argonne, USA.
Институт теоретической физики им. Л.Д. Ландау, Черноголовка.
Кафедра теоретической физики, МФТИ, Москва.
Проведено сравнительное экспериментальное исследование перехода
сверхпроводник-изолятор в сплошных и наноперфорированных плёнках нитрида
титана (квадратная решётка отверстий с периодом 200 нм и диаметром 120 нм).
На рисунке представлены результаты исследования температурных зависимостей сопротивления в нулевом магнитном поле сплошных и перфорированных
плёнок. И те, и другие претерпевают переход сверхпроводник-изолятор, демонстрируя целую гамму явлений. Сопротивление всех образцов увеличивается при
понижении температуры от комнатной. Построение этих данных в координатах 1/R
как функция lg(T) показывает, что это увеличение обусловлено вкладом в проводимость эффектов электрон-электронного взаимодействия и слабой локализации
(Рис. e). Причём, наклон этих зависимостей для каждой серии не изменяется и
согласуется с геометрическим фактором. Это доказывает, что наноструктурирование плёнок не изменяет микроскопический беспорядок в системе.
Рис. Температурные зависимости сопротивления на квадрат перфорированных (pA,
pB, pC) (панели (a) и (в))) и соответствующих им сплошных плёнок TiN (rA, rB, rC)
(панели (б) и (г)), демонстрирующие переход сверхпроводник - изолятор. На панелях (a)
и (б) сопротивление приведено в линейном масштабе, на панелях (в) и (г) в логарифмическом. При этом масштаб попарно совпадает между панелями (a)-(б) и (в)-(г). (д) Те
же зависимости, но в виде кондактанса G/G00 = 2π2ħ/(e2R), показывающие логарифми-
ческую температурную зависимость, обусловленную эффектами слабой локализации
и электро-электронного взаимодействия. (е) Сопротивление как функция 1/T для
несверхпроводящих образцов. Штриховые линии отвечают зависимости R =
R0exp(T0/T) с параметрами T0 = 0.63 и 1.9 K и R0 = 16.6 и 55.6 кОм для образцов rC и pC,
соответственно. Данные T0 отмечены вертикальными штрихами, показывающими,
что T0 определены в диапазоне T < T0.
Перфорирование плёнок существенно сдвигает сам переход сверхпроводник-изолятор и все характеристические температуры, в частности, температуру
сверхпроводящего перехода (что хорошо видно из сравнения температурных
зависимостей сопротивления для образцов rA и pA). После первого краткого
травления сплошная плёнка (rB) всё ещё демострирует переход в сверхпроводящее
состояние, в то же время, соответствующая ей перфорированная плёнка pB оказывается на диэлектрической стороне перехода сверхпроводник-изолятор. После второго травления и сплошная плёнка rC, и перфорированная pC оказываются
диэлектрическими.