2013



  1. Валишева Н.А., Терещенко О.Е., Кручинин В.Н., Кожухов А.С., Левцова Т.А., Рыхлицкий С.В., Щеглов Д.В. Изучение морфологии и оптических свойств анодных оксидных слоев на InAs(111)A. Физика и техника полупроводников, 2013, Т. 47, № 4, С. 532-537.
  2. Atuchin V.V., Kruchinin V.N., Beisel N.F., Kokh K.A., Kruchinin V.N., Korolkov I.V., Pokrovsky L.D., Tsygankova A.R., Kokh A.E. Growth and microstructure of heterogeneous crystal GaSe:InS. CrystEngComm, 2013, V. 15, P. 1365-1369.
  3. И.Я. Миттова, В.А. Швец, Е.В. Томина, Б.В. Сладкопевцев, Н.Н. Третьяков, А.А. Лапенко. Экспресс-контроль толщины и спектрально-эллипсометрическое исследование пленок, полученных термооксидированием InP и структур VxOy/InP. Неорганические материалы, 2013, том 49, № 2, с. 173-179.
  4. В.В. Каичев, Т.А. Асанова, С.Б. Эренбург, Т.В. Перевалов, В.А. Швец, В.А. Гриценко. Атомная и электронная структуры оксида лютеция Lu2O3. Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2013, том 143, вып. 2, стр. 371-378.
  5. С.В. Рыхлицкий, В.Н. Кручинин, В.А. Швец, Е.В. Спесивцев, В.Ю. Прокопьев. Спектральный плазмон-эллипсометрическийкомплекс «ЭЛЛИПС-СПЭК». Приборы и техника эксперимента, 2013, № 1, с. 137-138.
  6. В.А. Швец, С.В. Рыхлицкий, И.Я. Миттова, Е.В. Томина. Исследование оптических и структурных свойств оксидных плёнок на InP методом спектральной эллипсометрии. Журнал технической физики, 2013, т. 83, вып. 11, стр. 92-99.
  7. С.А. Лященко, И.А. Тарасов, С.Н. Варнаков, Д.В. Шевцов, В.А. Швец, В.Н. Заблуда, С.Г. Овчинников, Н.Н. Косырев, Г.В. Бондаренко, С.В. Рыхлицкий. Исследования магнитооптических свойств тонких слоев Fe in situ методами. Журнал технической физики, 2013, том 83, вып. 10, стр. 139-142.
  8. И.Я. Миттова, В.А. Швец, Е.В. Томина, А.А. Самсонов, Б.В. Сладкопевцев, Н.Н. Третьяков. Определение толщины и оптических постоянных нанометровых пленок, выращенных термооксидированием InP с магнетронно нанесенными слоями хемостимуляторов V2O5, V2O5 + PbO, NiO + PbO. Неорганические материалы, 2013, том 49, № 10, с. 1-8.
  9. Придачин Д.Н., Сидоров Ю.Г., Швец В.А., Якушев М.В. Исследование адсорбционных слоев и начальных стадий формирования пленок теллурида цинка на кремнии. Известия вузов. Физика, 2013, том 56, № 9/2, стр. 125-127.
  10. Придачин Д.Н., Швец В.А. Анализ адсорбционных покрытий теллура на кремнии: некоторые вопросы применения эллипсометрии. Физика, 2013, том 56, № 9/2, стр. 119-121.
  11. Швец В.А., Спесивцев Е.В. Эллипсометрия. Учебно-методическое пособие к лабораторным работам. link
  12. Atuchin V.V., Kruchinin V.N., Yew Hoong Wong, Kuan Yew Cheong. Microstructural and optical properties of ZrON/Si thin films. Letters, 2013, V. 105, P. 72-75.
  13. Kruchinina M.V., Voevoda M.I., Peltek S.E., Kruchinin V.N., Kurilovich S.A., Gromov A.A., Rykhlitsky S.V., Volodin V.A., Generalov V.M. Application of Optical Methods in Blood Studies upon Evaluation of Severity Rate of Diffuse Liver Pathology. Journal of Analytical Sciences, Methods and Instrumentation, 2013, V. 3, P. 115-123.
  14. Yew Hoong Wong, Atuchin V.V., Kruchinin V.N., Kuan Yew Cheong. Physical and dispersive optical characteristics of ZrON/Si thin-film system. Applied Physics A, 2013, DOI 10.1007/s00339-013-7947-1.