Новости



Спин-детектор планируется установить на оборудовании станции СКИФ первой очереди
Создание спинового триода — значительный шаг к вакуумной спинтронике — направлению электроники будущего


События

В понедельник, 3 марта 2025 г., в 15-00
в актовом зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.
В понедельник, 10 февраля, в 15-00
в актовом зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.

Во вторник, 24 декабря, в 15 часов в конференц-зале Административного корпуса состоятся защиты диссертаций...

В понедельник, 18 ноября, в 15-00
в актовом зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.

12 ноября 2024 года Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН проводит традиционный конкурс стипендий для молодых ученых. Начало работы мероприятия — в 9:00, в конференц-зале административного корпуса.

В понедельник, 30 сентября, в 15-00
в актовом зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.

Объявления

В четверг, 10.04.2025 в 15-00
состоится Институтский семинар (онлайн!)
Докладчик: Кубатаев Заур Юсупович
Структурно-динамические свойства и спектры комбинационного рассеяния света композиционных ионных систем на основе перхлоратов щелочных металлов

В среду, 9.04.2025 в 10-00
в конференц-зале Административного корпуса состоится Институтский семинар
Докладчик: Емельянов Евгений Александрович
«Молекулярно-лучевая эпитаксия твёрдых растворов GaPxAs(1-x)(001) и InAsxSb(1-x)(001): формирование состава в подрешётке пятой группы»

На 22 апреля 2025 г. запланировано проведение Конкурса научных работ сотрудников ИФП СО РАН.
Желающим принять участие в конкурсе необходимо до 4 апреля 2025 г. предоставить ученому секретарю Института комплект документов

В среду, 19 марта 2025 в 10-00
в конференц-зале Административного корпуса состоится Институтский семинар
Докладчик: д.ф.-м.н., профессор РАН Сачков Михаил Евгеньевич директор Института астрономии РАН
«Ультрафиолетовая Вселенная: задачи и перспективы исследования»

Важное





Российская конференция и школа молодых ученых

«ФОТОНИКА-2025»

8-12 сентября 2025 года


Конкурс РНФ на получение грантов по мероприятию «Проведение фундаментальных научных исследований и поисковых научных исследований под руководством зарубежных ведущих ученых»
Приём заявок продлен до 30.04.2025
Извещение
Конкурсная документация
Подробнее на сайте фонда

Конкурс на получение грантов РНФ по мероприятию «Проведение фундаментальных научных исследований и поисковых научных исследований под руководством зарубежных ведущих ученых» (имеющие прикладной характер)
Приём заявок продлен до 30.04.2025
Извещение
Конкурсная документация
Подробнее на сайте фонда

Другие конкурсы...

Поступление в образовательные организации высшего образования

https://pos.gosuslugi.ru/lkp/polls/477289/

Лаборатория физико-технологических основ создания приборов на основе соединений А2В6

РАЗРАБОТКИ

  1. Линейчатый фотоприемник формата 288×4 с двунаправленным режимом ВЗН.

  2. Разработан и изготовлен кремниевый мультиплексор по серийной одномикронной КМОП-технологии с двумя уровнями металла и двумя уровнями поликремния с двунаправленным ВЗН-сканированием и деселекцией дефектных элементов.

    Изготовлены фотодиодные фоточувствительные элементы формата 288×4 элементов с помощью ионного легирования бором ГЭС КРТ МЛЭ p-типа для спектрального диапазона 8–12 мкм. Темновые токи высококачественных фотодиодов составляют 5–10 нА при обратном напряжении смещения –150 мВ и лимитированы, в основном, диффузионной компонентой. Величина произведения R0A ≈ 70 Ом·см2.

    Методом гибридной сборки на индиевых столбах фоточувствительного фотодиодного элемента и мультиплексора изготовлены образцы ИКФП. Спектральная чувствительность по уровню 0,5 от максимального значения лежит в диапазоне 8–12 мкм. Вольтовая чувствительность и удельная обнаружительная способность в максимуме чувствительности составляют (2–3)×108 В/Вт и (1,5–3,0)×1011 см·Гц1/2·Вт–1 соответственно.

    В таблице приведены основные параметры линейчатого фотоприемника форматом 288×4 элементов на основе ГЭС МЛЭ для спектрального окна прозрачности атмосферы 8-12 мкм.

    Наименование параметра Значение параметра
    Длинноволновая граница спектральной чувствительности по уровню 0,5 мкм 10,2
    Среднее значение удельной обнаружительной способности по недефектным каналам в максимуме спектральной чувствительности, cм·Гц1/2·Вт–1 2,74×1011
    Минимальное значение удельной обнаружительной способности D*λ по недефектным каналам в максимуме спектральной чувствительности, cм·Гц1/2·Вт–1 1,75×1011
    Среднеквадратическое отклонение удельной обнаружительной способности каналов, % 11,7
    Среднее значение вольтовой чувствительности каналов в максимуме спектральной чувствительности, В/Вт 3,2×108
    Среднеквадратическое отклонение вольтовой чувствительности каналов, % 7,8
    Количество дефектных каналов, шт. 0
    Количество соседних дефектных каналов, шт. 0

    На рис.1 и 2 приведены внешний вид и пример теплового изображения, полученного с помощью линейчатого фотоприемного модуля 288×4.

    Рис.1. Внешний вид линейчатого фотоприемного модуля 288×4.

    Рис.2. Пример теплового изображения, полученного с помощью линейчатого фотоприемного модуля 288×4.

  3. Двухспектральные фоточувствительные элементы в слоях гетероэпитаксиальных наноструктур КРТ

    В рамках НИР «Самун» разработана технология и изготовлены двухспектральные фоточувствительные элементы в слоях гетероэпитаксиальных наноструктур КРТ.

    Поперечное сечение фоточувствительной структуры на основе гетероэпитаксиальной наноструктуры КРТ.

    Основные параметры экспериментальных образцов двухспектральных фоточувствительных элементов (ДФЧЭ) в слоях гетероэпитаксиальных наноструктур КРТ (ГЭ НС КРТ) формата 4×288 элементов для спектральных диапазонов 3-5 и 8-11 мкм приведены в таблице.

    Фотоэлектрические параметры ДФПУ формата 288×4 элемнтов:

    Наименование параметра, условное обозначение Измеренное значение параметра
    Длинноволновая граница по уровню 0,5 от макси­мального значения в спектральном диапазоне 3-5 мкм, мкм 5,7
    Длинноволновая граница по уровню 0,5 от максимального значения в спектральном диапазоне 8-11 мкм, мкм 9,7
    Среднее значение удельной обнаружительной способности D*λmax по недефектным каналам в максимуме спектральной чувствительности в спектральном диапазоне 3–5 мкм, см×Гц1/2×Вт–1, ×1011 10,1
    Среднее значение удельной обнаружительной способности D*λmax по недефектным каналам в максимуме спектральной чувствительности в спектральном диапазоне 8–11 мкм, см×Гц1/2×Вт–1, ×1011 2,24
    Количество годных каналов, шт. 288
    Энергопотребление МКС, Вт, не более:
    - в период выхода на режим
    - в установившемся режиме

    20
    14,9

    Примеры тепловых изображений, полученных с использованием макетного образца субмодуля электронной обработки, показаны на рисунке 3.


    a)

    б)

    в)

    г)

    д)

    е)

    Рисунок 3. Тепловые изображения, полученные при помощи макетного образца субмодуля электронной обработки сигналов.
    а, г – изображения в спектральном диапазоне 3-5 мкм;
    б, д – изображения в спектральном диапазоне 8-12 мкм;
    в, е – линейная комбинация изображений обоих спектральных диапазонов.

  4. Высококачественные длинноволновые инфракрасные матричные ФПУ формата 320×256

    Разработана технология и изготовлены матричные фотоприемные модули на основе ГЭС МЛЭ КРТ, выращенных на «альтернативной» подложке из кремния. Такие фотоприемники обладают повышенной стойкостью к термоциклированиям, поскольку коэффициенты термического расширения кремниевой схемы считывания и фотоприемной матрицы на кремниевой подложке одинаковы.

    Величина темнового тока ФПМ фотодиодов с длинноволновой границей λ1/2 = (9.2÷9.6) мкм составляет 0.25÷0.45 нА, величина произведения R0A - (0.9÷1.8)×102 Ом·см2. Вольтовая чувствительность, пороговая облученность и среднее значение NETD в максимуме чувствительности ФПУ составляют 11,8×108 В/Вт, 3,7×10-8Вт/см2 и 26,8 мК, соответственно. Доля дефектных не работающих элементов составляет 0,05% от общего количества. Топограмма дефектных элементов приведена на рисунке 4.

    а)

    б)

    Рисунок 4. Топограммы дефектных элементов длинноволнового ФПУ на основе оптимизированной ГЭС КРТ; а) дефектные элементы по чувствительности и пороговой облученности (1,5% от общего количества), б) не работающие элементы (0,05% от общего количества).

  5. Разработка и изготовление опытных образцов унифицированных модулей МФПУ формата 640×512 для спектральных диапазонов 3 – 5 мкм и 8 – 10 мкм

    Унифицированные модули матричных фотоприемных устройств (МФПУ) предназначены для использования в составе оптико-электронных каналов различного назначения.

    Унифицированные модули МФПУ для спектрального диапазона 3 – 5 мкм (индекс МФПУ-С) и унифицированные модули МФПУ для спектрального диапазона 8 – 10 мкм (индекс МФПУ-Д) включают сборку матрицы фотодиодов формата не менее 640×512 элементов на основе гетероэпитаксиальных наноструктур «кадмий-ртуть-теллур» на кремнии с кремниевой схемой считывания, осуществляющую прием и преобразование энергии инфракрасного излучения в электрический сигнал, смонтированную в вакуумном криостатируемом корпусе (ВКК), сопряженном с микрокриогенной системой охлаждения (МКСО), обеспечивающей рабочий температурный режим.

    На рисунке 5 приведены топограмма дефектных элементов (черные точки и скопления) и гистограмма разности температур, эквивалентной шуму (NETD) МФП-С № 4.

    Рисунок 5. Гистограмма NETD элементов МФП-С №4. Средняя величина NETD = 16,17 мК и топограмма дефектных элементов МФП-С №4 Количество дефектных элементов– 1,84%.

    На рисунке 6 приведены топограмма дефектных элементов (черные точки и скопления) и гистограмма разности температур, эквивалентной шуму (NETD) МФП-Д № 6.

    Рисунок 6. Гистограмма NETD элементов МФП-Д №6. Средняя величина NETD = 29,9 мК и топограмма дефектных элементов МФП-Д №6 Количество дефектных элементов– 4,57%.

    Измерения параметров опытных образцов модулей МФПУ показали соответствие параметров опытных образцов МФПУ-С и МФПУ-Д требованиям ТЗ за исключением количества дефектных элементов в модуле МФПУ-Д. Значение средней разности температур эквивалентной шуму МФПУ-Д составило 25,8 мК и количество дефектных элементов по критерию NETD> 3 × составило 8,07% (по ТЗ – не более 5%). Увеличение количества дефектных элементов опытного образца МФПУ-Д произошло вследствие неточности монтажа МФП (с количеством дефектных элементов 4,57 %, удовлетворяющим требованиям ТЗ) в ВКК и холодной диафрагмы, которая затеняет угловые элементы МФП.