События

В понедельник, 2 июня 2025 г., в 15-00
в актовом зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.
В понедельник, 3 марта 2025 г., в 15-00
в актовом зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.
В понедельник, 10 февраля, в 15-00
в актовом зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.

Во вторник, 24 декабря, в 15 часов в конференц-зале Административного корпуса состоятся защиты диссертаций...

В понедельник, 18 ноября, в 15-00
в актовом зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.

12 ноября 2024 года Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН проводит традиционный конкурс стипендий для молодых ученых. Начало работы мероприятия — в 9:00, в конференц-зале административного корпуса.

Объявления

ИФП СО РАН объявляет очередной приём в аспирантуру по образовательным программам подготовки научных и научно-педагогических кадров в аспирантуре очной формы обучения.

В среду, 25.06.2025 в 15-00
в конференц-зал Административного корпуса состоится Институтский семинар
Докладчик: Майдэбура Ян Евгеньевич
«Механизмы формирования квантовых точек GaN методом аммиачной молекулярно-лучевой эпитаксии»

В среду, 11 июня 2025 в 17-00
в конференц-зале ТК состоится
семинар лаборатории №3 по публикации: "1.534 мкм электролюминесценция эрбия в плёнках In2O3:Er, ВЧ-магнетронно напылённых на подложку кремния."

Во вторник, 10 июня 2025 в 15-00
в конференц-зале ТК состоится лабораторный семинар
Докладчик: Майдэбура Ян Евгеньевич
"Механизмы формирования квантовых точек GaN методом аммиачной молекулярно-лучевой эпитаксии"

Важное





Российская конференция и школа молодых ученых

«ФОТОНИКА-2025»

8-12 сентября 2025 года


Конкурс на присуждение премий мэрии города Новосибирска в сфере науки и инноваций

Заявки принимают по 28 июля 2025 года
Подробнее

Конкурс молодых ученых 2025 года по присуждению премий имени выдающихся ученых Сибирского отделения РАН

Срок предоставления работ с 16 июня по 31 июля 2025
Подробнее

Другие конкурсы...

Поступление в образовательные организации высшего образования

https://pos.gosuslugi.ru/lkp/polls/477289/

Атомно-силовые микроскопы

Новые возможности для трехмерных измерений линейных размеров элементов структур микро и нанорельефа поверхности конденсированных сред обеспечиваются применением сканирующих зондовых микроскопов. Метод атомно-силовой микроскопии основан на взаимодействии твердотельной заостренной иглы с поверхностью исследуемого объекта. Относительная простота интерпретации получаемых изображений при высокой разрешающей способности и прецизионной точности измерений зондовой микроскопии позволяет решать многочисленные задачи, которые невозможно решить другими экспериментальными методами. Достоинством методов сканирующей зондовой микроскопии является возможность получения трехмерного изображения рельефа поверхности, формирование которого оптической или электронной микроскопией затруднено и сопряжено со значительными математическими расчетами. Преимуществом АСМ диагностики также является способность получения карт распределения по поверхности ряда параметров, таких как электростатический потенциал, уровень легирования, кулоновский заряд, электрическая емкость, намагниченность, твердость, оптические характеристики и др. Получаемая с помощью АСМ информация существенным образом зависит от геометрических размеров иглы-зонда, располагаемого на микроразмерной балке (~200 мкм длиной) с малым коэффициентом жесткости (~1 Н/м). Для учета эффектов деконволюции и получения адекватной информации о поверхности была разработана методика контроля формы и геометрии иглы методами СЭМ и ВРЭМ.

Smena P47-H (NT-MDT, г. Зеленоград)
  • Разрешение по вертикали лучше чем 0,8 нм
  • Латеральное разрешение зависит от размера зонда (~10 нм) и высоты рельефа
  • Максимальный размер поля сканирования 40х40 мкм2
  • Атмосферные условия
  • Зондовая литография
  • Измерение распределения по поверхности:
         -электростатического потенциала
         -кулоновского заряда
         -электрической емкости
         -намагниченности
         -твердости
         -силы трения








Специалисты:




с.н.с. Щеглов Д.А., ТК к. 107, т.330-90-82
м.н.с. Родякина Е.Е., ТК к. 106
аспирант Кожухов А.С., ТК к. 107


Integra Aura (NT-MDT, г. Зеленоград)
  • Разрешение по вертикали лучше, чем 0,8 нм
  • Латеральное разрешение зависит от размера зонда (~10 нм) и высоты рельефа
  • Максимальный размер поля сканирования 110х110 мкм2
  • Измерения в различных средах:
         -атмосферные условия
       измерения в вакууме (Рост~)
       жидкостная ячейка
  • Зондовая литография
  • Измерение распределения по поверхности:
       электростатического потенциала
       кулоновского заряда
       электрической емкости
       намагниченности
       твердости
       силы трения

Изображения и результаты, полученные методом АСМ:

Литография: