 | Сверхвысоковакуумный отражательный электронный микроскоп (СВВ ОЭМ) - не имеющий аналогов в России уникальный микроскоп, позволяющий проводить in situ эксперименты при высоких температурах, имеет высокую чувствительность к элементам структуры поверхности и обеспечивает пространственное разрешение, достаточное для визуализации индивидуальных моноатомных ступеней... читать далее>>> |
 | Просвечивающие электронные микроскопы высокого разрешения (ПЭМ) - позволяют по изображениям, полученным с атомным разрешением, и картинам дифракции электронов характеризовать структурные дефекты, определять такие важные параметры низкоразмерных систем, как пространственное расположение квантовых объектов их размеры... читать далее>>> |
 |
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) - предназначен для исследования морфологии и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности и анализа химического состава приповерхностного слоя методами EDX... читать далее>>> |
 | Установка фокусированных ионных пучков (ФИП) - совмещающая растровую электронную микроскопию с ионным пучком, широко применяется в современных полупроводниковых технологиях, научных исследованиях, а также для решения прикладных задач препарирования образцов для электронной микроскопии... читать далее>>> |
 | Атомно-силовые микроскопы (АСМ) - предназначены для трёхмерных измерения линейных размеров элементов структур, микро- и нанорельефа поверхности конденсированных сред, модификации (литографии) поверхности зондом микроскопа... читать далее>>> |
 | Оптический литограф - применяется для непосредственного формирования топологических структур на полупроводниковых пластинах и изготовления промежуточных шаблонов при производстве БИС, СБИС и других изделий электронной техники... читать далее>>> |
 | Электронный литограф - используется для формирования структур различного применения с размерами от 20 нм, создания промежуточных шаблонов для оптической литографии и сканирования поверхности образцов с большим увеличением в автоматическом режиме... читать далее>>> |
 | Четырёхзондовая станция - предназначена для проведения точных и надежных измерений вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик в непрерывном или импульсном режиме на пластине, возможных только при осуществлении качественного, стабильного и надежного контакта, не разрушающего измеряемое устройство... читать далее>>> |
Новости
Спин-детектор планируется установить на оборудовании станции СКИФ первой очереди
Создание спинового триода — значительный шаг к вакуумной спинтронике — направлению электроники будущего
События
в актовом зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.
в актовом зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.
Во вторник, 24 декабря, в 15 часов в конференц-зале Административного корпуса состоятся защиты диссертаций...
в актовом зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.
12 ноября 2024 года Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН проводит традиционный конкурс стипендий для молодых ученых. Начало работы мероприятия — в 9:00, в конференц-зале административного корпуса.
в актовом зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.
Объявления
В четверг, 10.04.2025 в 15-00
состоится Институтский семинар (онлайн!)
Докладчик: Кубатаев Заур Юсупович
Структурно-динамические свойства и спектры комбинационного рассеяния света
композиционных ионных систем на основе перхлоратов щелочных металлов
В среду, 9.04.2025 в 10-00
в конференц-зале Административного корпуса состоится Институтский семинар
Докладчик: Емельянов Евгений Александрович
«Молекулярно-лучевая эпитаксия твёрдых растворов GaPxAs(1-x)(001) и InAsxSb(1-x)(001): формирование состава в подрешётке пятой группы»
На 22 апреля 2025 г. запланировано проведение Конкурса научных работ сотрудников ИФП СО РАН.
Желающим принять участие в конкурсе необходимо до 4 апреля 2025 г. предоставить ученому секретарю Института комплект документов
В среду, 19 марта 2025 в 10-00
в конференц-зале Административного корпуса состоится Институтский семинар
Докладчик: д.ф.-м.н., профессор РАН Сачков Михаил Евгеньевич директор Института астрономии РАН
«Ультрафиолетовая Вселенная: задачи и перспективы исследования»
Важное
 | Российская конференция и школа молодых ученых 8-12 сентября 2025 года |
Конкурс РНФ на получение грантов по мероприятию «Проведение фундаментальных научных исследований и поисковых научных исследований под руководством зарубежных ведущих ученых»
Приём заявок продлен до 30.04.2025
Извещение
Конкурсная документация
Подробнее на сайте фонда
Конкурс на получение грантов РНФ по мероприятию «Проведение фундаментальных научных исследований и поисковых научных исследований под руководством зарубежных ведущих ученых» (имеющие прикладной характер)
Приём заявок продлен до 30.04.2025
Извещение
Конкурсная документация
Подробнее на сайте фонда
Поступление в образовательные организации высшего образования
![[Центр коллективного пользования]](/img/logo-ckp.gif){kind=logo} | ![[Контакты]](/img/contacts.gif) | ![[Служба webmail]](/img/webmail_new.gif) | ![[Библиотека]](/img/lib_new.jpg) |
![[Закупки]](/img/gos.gif) |