События

В понедельник, 2 июня 2025 г., в 15-00
в актовом зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.
В понедельник, 3 марта 2025 г., в 15-00
в актовом зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.
В понедельник, 10 февраля, в 15-00
в актовом зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.

Во вторник, 24 декабря, в 15 часов в конференц-зале Административного корпуса состоятся защиты диссертаций...

В понедельник, 18 ноября, в 15-00
в актовом зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.

12 ноября 2024 года Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН проводит традиционный конкурс стипендий для молодых ученых. Начало работы мероприятия — в 9:00, в конференц-зале административного корпуса.

Объявления

ИФП СО РАН объявляет очередной приём в аспирантуру по образовательным программам подготовки научных и научно-педагогических кадров в аспирантуре очной формы обучения.

Во вторник, 20.05.2025 в 10-00
в конференц-зал Административного корпуса состоится Институтский семинар
Докладчик: Щеглов Дмитрий Владимирович
«АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ НАНОТЕХНОЛОГИЯХ: МЕТРОЛОГИЯ, ДИАГНОСТИКА И ЛИТОГРАФИЯ»

Во вторник, 13.05.2025 в 15-00
в конференц-зале ТК состоится открытый лабораторный семинар
Докладчик: Пономарев Сергей Артемьевич
"Структурные и морфологические трансформации слоистых халькогенидов металлов при сублимации и эпитаксиальном росте"

В четверг, 10.04.2025 в 15-00
состоится Институтский семинар (онлайн!)
Докладчик: Кубатаев Заур Юсупович
Структурно-динамические свойства и спектры комбинационного рассеяния света композиционных ионных систем на основе перхлоратов щелочных металлов

Важное





Российская конференция и школа молодых ученых

«ФОТОНИКА-2025»

8-12 сентября 2025 года


Конкурс молодых ученых 2025 года по присуждению премий имени выдающихся ученых Сибирского отделения РАН

Срок предоставления работ с 16 июня по 31 июля 2025
Подробнее

Другие конкурсы...

Поступление в образовательные организации высшего образования

https://pos.gosuslugi.ru/lkp/polls/477289/

ПАТЕНТЫ

  1. Рыхлицкий С.В., Журавлев П.В., Корсаков Ю.М. «Устройство для измерения спектрального коэффициента яркости земной поверхности». Авторское свидетельство СССР № 1289183, БИПМ № 13 - 2011.

  2. Алгазин Ю.Б., Рыхлицкий С.В. «Эллипсометр». Авторское свидетельство СССР № 448831, БИПМ № 13 - 2011.

  3. Чикичев С.И., Рыхлицкий С.В., Прокопьев В.Ю. «Эллипсометр», Патент РФ № 2384835, БИПМ № 8 - 2010.

  4. Рыхлицкий С.В., Швец В.А., Прокопьев В.Ю., Спесивцев Е.В. «Эллипсометрический комплекс для высокотемпературных исследований», Патент РФ № 2353919, БИПМ № 12 - 2009.

  5. Спесивцев Е.В., Рыхлицкий С.В., Борисов А.Г., Швец В.А. «Эллипсометр», Патент РФ № 2351917, БИПМ № 10 - 2009.

  6. Спесивцев Е.В., Рыхлицкий С.В., Швец В.А. «Эллипсометр», Патент РФ № 2302623, БИПМ № 19 - 2007.

  7. Рыхлицкий С.В., Селезнев А.Н., Хасанов Т. «Фазосдвигающее устройство», Патент РФ № 2289831, БИПМ № 35 - 2006.

  8. Дулин С.А., Рыхлицкий С.В., «Спектральный эллипсометр», Патент РФ № 2247969, БИПМ № 7 - 2005.

  9. Спесивцев Е.В., Рыхлицкий С.В. «Эллипсометр». Свидетельство на полезную модель РФ № 16314, БИПМ № 35 – 2001.

  10. Дворецкий С.А., Дулин С.А., Михайлов Н.Н., Рыхлицкий С.В., Сидоров Ю.Г. «Способ бесконтактного измерения температуры», Патент РФ № 2149366, БИПМ № 14 - 2000.

  11. Рыхлицкий С.В., Соколов В.К., Федоринин В.Р. «Спектроэллипсометр» Патент РФ № 1495648, БИПМ № 11 - 1997.