РАЗРАБОТКИ
Сканирующий эллипсометр высокого пространственного разрешения «МИКРОСКАН-М»
![]() |
Назначение Исследование распределения физических свойств по площади образца Характеристики
|
Спектральный эллипсометрический комплекс «ЭЛЛИПС-1891 САГ»
Лазерный эллипсометр высокого временного разрешения ЛЭФ-752
Аналитический комплекс для характеризации поверхности методом полной эллипсометрии
Матричный эллипсометрический комплекс МЭК-2
Матричный эллипсометрический комплекс МЭК-2
![]() |
![]() |
![]() |