ПУБЛИКАЦИИ
1992
- Ковчавцев А.П., Ильенков Я.А., Ковалевская Т. Е. Оценка параметров глубоких уровней в МДП-структурах на основе InAs. Поверхность. Физика, Химия, механика. 1992, 1, 62-69.
- V.M. Efimov, Z.V. Panova, A.V. Malygin, A.P. Kovchavtsev. Physico-Chemical Properties of Plasma Deposited Silicon Nitride Films. Phys. Stat. Sol. (a), 1992, 129, pp. 483-491.







В пятницу, 26 декабря 2025 г. , в 10.00 

![[Центр коллективного пользования]](/img/logo-ckp.gif)
![[Контакты]](/img/contacts.gif)
![[Служба webmail]](/img/webmail_new.gif)
![[Библиотека]](/img/lib_new.jpg)
![[Закупки]](/img/gos.gif)