ПУБЛИКАЦИИ
1983
- Prinz V.Ya., Rechkunov S.N., Influence of a strong electric field on the carrier capture by nonradiative deep-level centers. Fourth “Lund” International Conference on Deep Level Impurities in Semiconductors, 1983, p. 93-97.
- А.с. 805873 (СССР). Способ контроля ловушек неосновных носителей заряда в полупроводниках. В.Я. Принц. Опубл. в БИ., № 30, 1983.
- Prinz V.Ya., Rechkunov S.N., Influence of a strong electric field on the carrier capture by nonradiative deep-level centers in GaAs. Phys. Stat. Sol. (b), 1983, 118(1), p. 159-166.







В пятницу, 26 декабря 2025 г. , в 10.00 

![[Центр коллективного пользования]](/img/logo-ckp.gif)
![[Контакты]](/img/contacts.gif)
![[Служба webmail]](/img/webmail_new.gif)
![[Библиотека]](/img/lib_new.jpg)
![[Закупки]](/img/gos.gif)