![]() | Сверхвысоковакуумный отражательный электронный микроскоп (СВВ ОЭМ) - не имеющий аналогов в России уникальный микроскоп, позволяющий проводить in situ эксперименты при высоких температурах, имеет высокую чувствительность к элементам структуры поверхности и обеспечивает пространственное разрешение, достаточное для визуализации индивидуальных моноатомных ступеней... читать далее>>> |
![]() | Просвечивающие электронные микроскопы высокого разрешения (ПЭМ) - позволяют по изображениям, полученным с атомным разрешением, и картинам дифракции электронов характеризовать структурные дефекты, определять такие важные параметры низкоразмерных систем, как пространственное расположение квантовых объектов их размеры... читать далее>>> |
![]() |
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) - предназначен для исследования морфологии и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности и анализа химического состава приповерхностного слоя методами EDX... читать далее>>> |
![]() | Установка фокусированных ионных пучков (ФИП) - совмещающая растровую электронную микроскопию с ионным пучком, широко применяется в современных полупроводниковых технологиях, научных исследованиях, а также для решения прикладных задач препарирования образцов для электронной микроскопии... читать далее>>> |
![]() | Атомно-силовые микроскопы (АСМ) - предназначены для трёхмерных измерения линейных размеров элементов структур, микро- и нанорельефа поверхности конденсированных сред, модификации (литографии) поверхности зондом микроскопа... читать далее>>> |
![]() | Оптический литограф - применяется для непосредственного формирования топологических структур на полупроводниковых пластинах и изготовления промежуточных шаблонов при производстве БИС, СБИС и других изделий электронной техники... читать далее>>> |
![]() | Электронный литограф - используется для формирования структур различного применения с размерами от 20 нм, создания промежуточных шаблонов для оптической литографии и сканирования поверхности образцов с большим увеличением в автоматическом режиме... читать далее>>> |
![]() | Четырёхзондовая станция - предназначена для проведения точных и надежных измерений вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик в непрерывном или импульсном режиме на пластине, возможных только при осуществлении качественного, стабильного и надежного контакта, не разрушающего измеряемое устройство... читать далее>>> |
Новости

События
Во вторник, 28 апреля, в 15 часов в конференц-зале Административного корпуса состоится защита диссертации
Во вторник, 21 апреля, в 15 часов в конференц-зале Административного корпуса состоится защита диссертации
в актовом зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.
Во вторник, 27 января, в 15 часов в конференц-зале Административного корпуса состоятся защиты диссертаций...
в актовом зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.
в актовом зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.
Объявления
В четверг, 23 апреля, с 9:00 в конференц-зале административного корпуса будет проходить конкурс научных работ ИФП СО РАН 2026 года
В четверг, 16 апреля, с 9:00 в конференц-зале административного корпуса будет проходить заседание секции "Физика твердого тела" 64-й Международной научной студенческой конференции МНСК-2026.
В пятницу, 26 декабря 2025 г. , в 10.00
Новогодний Семинар"Физика конденсированного состояния – 2025 в мире, в России, в ИФП"
В среду 19 ноября 2025 г., в 10-00
в конференц-зал Административного корпуса состоится Институтский семинар
Докладчик: Кумар Ниранджан
«Фазовый переход и динамика фононов в HgSe»
В четверг, 09.10.2025 в 10-30
в конференц-зале ЛТК состоится
Семинар лаборатории №1: "Флуктуационный кондктанс двумерного полуметалла". Докладчик: З.Д. Квон
Важное
Конкурс на получение грантов РНФ по мероприятию «Проведение фундаментальных научных исследований и поисковых научных исследований международными научными коллективами» (совместно с Белорусским республиканским фондом фундаментальных исследований)
Прием заявок до 29.05.2026
Конкурсная документация
Подробнее на сайте фонда
Конкурс РНФ «Конкурс по отбору технологических предложений для проведения конкурса Фонда по направлению «Микроэлектроника»»
Заявки принимаются до 11.06.2026
Извещение
Конкурсная документация
Подробнее на сайте фонда
Поступление в образовательные организации высшего образования














![[Центр коллективного пользования]](/img/logo-ckp.gif)
![[Контакты]](/img/contacts.gif)
![[Служба webmail]](/img/webmail_new.gif)
![[Библиотека]](/img/lib_new.jpg)
![[Закупки]](/img/gos.gif)