Главная
Методики
Услуги
Приборный парк
Метрологическое обеспечение
Документы
Сотрудничество и аккредитация
Ведущая научная школа
Научно-образовательный центр
Кафедра
Кадровый состав
Руководитель
Публикации и патенты
Учебные пособия
Контакты и реквизиты
История
Отделения ЦКП
Высокоразрешающая электронная микроскопия
Отражательная электронная микроскопия
Сканирующая электронная микроскопия
Зондовая микроскопия
Туннельная микроскопия
Нанолитография
Ионная литография
Микролитография
Электрофизические измерения
Моделирование
Пробоподготовка
Метрологическая поддержка
Новости
20.01.2017
Обновлен список публикаций за 2016 год, в которых при исследованиях использовалось оборудование ЦКП «Наностркуктуры».
Искать...
Контакты
630090
г. Новосибирск,
пр. Академика Лаврентьева, 13
Телефон, факс
: (383) 330-90-82,
(383) 333-10-80
Email
:
Подать заявку на услуги
Список заявок
Аккредитация в качестве организации-партнера
Порядок расчета стоимости услуг
Типовая форма договора на оказание услуг
План работы ЦКП
Текущие проекты и отчёты
Научно-технический совет
Главная
Новости
20.01.2017