на базе лаб.2 "Эллипсометрия полупроводниковых материалов и структур" и лаб. 16 «МЛЭ Si-Ge и соединений А3В5»

Административный корпус 18 сентября 2019 г.
Конференц-зал Среда, 15 часов

Прокопьев Виталий Юрьевич

РАЗРАБОТКА И ОПТИМИЗАЦИЯ АВТОМАТИЗИРОВАННЫХ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ ДЛЯ ШИРОКОГО КЛАССА ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКОЙ АППАРАТУРЫ

(по материалам кандидатской диссертации)

Научный руководитель: Швец Василий Александрович.