ПУБЛИКАЦИИ
1979
- Кравченко А.Ф., Принц В.Я., Емкостная спектроскопия примесных и дефектных уровней в полупроводниках типа А3В5, Препринт ИФП СО РАН СССР, 1979, с. 35-79.
- Принц В.Я., Булатецкий К.Г., Спектроскопия глубоких примесных уровней компенсационным методом. ПТЭ, 1979, № 4, с. 255-258.
- Орлов О.М., Принц В.Я., Скок Э.М., Прибор для автоматического измерения профиля концентрации мелких уровней. ПТЭ, 1979, № 4, с. 258-261.