11:15 - 11:30
|
А.В. Голицин, Г.Е. Журов, И.И. Кремис, А. Г. Паулиш,
В.Н. Федоринин, М.Ю. Цивинский, С.М. Чурилов,
П.И. Шапор, К.П. Шатунов
Направления развития
телевизионных и тепловизионныхсистем и приборов в
Филиале ИФП СО РАН «КТИПМ»
Филиал ИФП СО РАН
«КТИПМ», Новосибирск, Россия
|
11:30 - 11:45
|
П.Д. Гиндин1, К.А. Кузьмина1,2, С.А. Леготин2, В.П.
Астахов1, И.Э. Попова1, М.П. Иванова1, А.А. Краснов1,
Д.С. Ельников2
Характеристика кремниевого фотодиода
с «сетчатой» топологией
1ОАО «Швабе-Фотосистемы»,
Москва, Россия;
2Национальный исследовательский
Технологический Университет «МИСиС», Москва,
Россия.
|
11:45 - 12:00
|
В.В. Карпов, Н.С. Кузнецов, А.В. Марущенко, А.С. Ильин
Вакуумные криостаты для матричных фотоприемных
устройств на основе квантовых ям под форматы 384×288
и 640×512 элементов
ОАО «Швабе-Фотосистемы»,
Москва, Россия
|
12:00 - 12:15
|
П.Д. Гиндин, В.В. Карпов, М.Е. Козырев, В.И. Петренко,
К.В. Чиж
Матричные фотоприемные модули на основе
фотоприемника ФП2М
ОАО «Швабе-Фотосистемы»,
Москва, Россия
|
12:15 - 12:30
|
К.О.Болтарь1,2, И.Д. Бурлаков1,3, П.В. Власов1,
П.С. Лазарев1,2, А.А. Лопухин1, К.С. Журавлев4
МФПУ формата 640х512 с шагом 15 мкм на основе
гомоэпитаксиальной структуры InSb
1ГНЦ РФ АО «НПО
«Орион», Москва, Россия;
2МФТИ (ГУ), Долгопрудный,
Россия;
3МТУ (МИРЭА), Москва, Россия;
4ИФП СО РАН,
Новосибирск, Россия.
|
12:30 - 12:45
|
В.С. Варавин1, В.В. Васильев1, С.А. Дворецкий1,
А.В. Зверев1, В.Д. Кузьмин1, Ю.С. Макаров1,
В. Предеин1, В.Г. Ремесник1, И.В. Сабинина1,
А.О. Сусляков1, Г.Ю.Сидоров1, Ю.Г. Сидоров1,
А.В. Латышев1, И.И. Кремис2, Д.А. Толмачев2,
Р.А. Гладков2, В.А. Моисеев2, К.П. Шатунов2,
Е.О. Ульянова2, А.А. Горшков2, П.А. Сысоев3,
С.С. Милосердов3
Матричные фотоприемники форматом
384х288 для дальнего ИК диапазона 8-10 мкм с
микросканированием
1ИФП СО РАН, Новосибирск,
Россия;
2Филиал ИФП СО РАН "КТИПМ", Новосибирск,
Россия;
3Филиал 46 ЦНИИ МО РФ, Мытищи, Россия.
|
12:45 - 13:00
|
Р.А. Гладков, И.И. Кремис, М.С. Юношев
Метод оценки
и формирования сигналов смещения проекции
изображения в тепловизорах с использованием
микросканера
Филиал ИФП СО РАН «КТИПМ»,
Новосибирск, Россия
|
|