Вернуться к расписанию
Российская конференция и школа молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники
ФОТОНИКА 2017
12-е заседание. Председатель – С.А. Дворецкий
Дата: Пятница, 15 сентября
Время: 11:15-13:00
Место:Конференц-зал пансионата «Сосновка»
11:15 - 11:30 А.В. Голицин, Г.Е. Журов, И.И. Кремис, А. Г. Паулиш, В.Н. Федоринин, М.Ю. Цивинский, С.М. Чурилов, П.И. Шапор, К.П. Шатунов
Направления развития телевизионных и тепловизионныхсистем и приборов в Филиале ИФП СО РАН «КТИПМ»
Филиал ИФП СО РАН «КТИПМ», Новосибирск, Россия
11:30 - 11:45 П.Д. Гиндин1, К.А. Кузьмина1,2, С.А. Леготин2, В.П. Астахов1, И.Э. Попова1, М.П. Иванова1, А.А. Краснов1, Д.С. Ельников2
Характеристика кремниевого фотодиода с «сетчатой» топологией
1ОАО «Швабе-Фотосистемы», Москва, Россия;
2Национальный исследовательский Технологический Университет «МИСиС», Москва, Россия.
11:45 - 12:00 В.В. Карпов, Н.С. Кузнецов, А.В. Марущенко, А.С. Ильин
Вакуумные криостаты для матричных фотоприемных устройств на основе квантовых ям под форматы 384×288 и 640×512 элементов
ОАО «Швабе-Фотосистемы», Москва, Россия
12:00 - 12:15 П.Д. Гиндин, В.В. Карпов, М.Е. Козырев, В.И. Петренко, К.В. Чиж
Матричные фотоприемные модули на основе фотоприемника ФП2М
ОАО «Швабе-Фотосистемы», Москва, Россия
12:15 - 12:30 К.О.Болтарь1,2, И.Д. Бурлаков1,3, П.В. Власов1, П.С. Лазарев1,2, А.А. Лопухин1, К.С. Журавлев4
МФПУ формата 640х512 с шагом 15 мкм на основе гомоэпитаксиальной структуры InSb
1ГНЦ РФ АО «НПО «Орион», Москва, Россия;
2МФТИ (ГУ), Долгопрудный, Россия;
3МТУ (МИРЭА), Москва, Россия;
4ИФП СО РАН, Новосибирск, Россия.
12:30 - 12:45 В.С. Варавин1, В.В. Васильев1, С.А. Дворецкий1, А.В. Зверев1, В.Д. Кузьмин1, Ю.С. Макаров1, В. Предеин1, В.Г. Ремесник1, И.В. Сабинина1, А.О. Сусляков1, Г.Ю.Сидоров1, Ю.Г. Сидоров1, А.В. Латышев1, И.И. Кремис2, Д.А. Толмачев2, Р.А. Гладков2, В.А. Моисеев2, К.П. Шатунов2, Е.О. Ульянова2, А.А. Горшков2, П.А. Сысоев3, С.С. Милосердов3
Матричные фотоприемники форматом 384х288 для дальнего ИК диапазона 8-10 мкм с микросканированием
1ИФП СО РАН, Новосибирск, Россия;
2Филиал ИФП СО РАН "КТИПМ", Новосибирск, Россия;
3Филиал 46 ЦНИИ МО РФ, Мытищи, Россия.
12:45 - 13:00 Р.А. Гладков, И.И. Кремис, М.С. Юношев
Метод оценки и формирования сигналов смещения проекции изображения в тепловизорах с использованием микросканера
Филиал ИФП СО РАН «КТИПМ», Новосибирск, Россия