Гамбарян Маргарита Петровна
Дата рождения: | 20.12.1990 |
Вуз (дата окончания): | НГТУ (2015) |
2018 | |
Форма обучения: | очная |
03.06.01 - "Физика и астрономия" | |
Специальность: | 01.04.10 - "Физика полупроводников" |
Тема диссертации: | «Нанокристаллы Ge и GeSi в матрице германосиликатного стекла: формирование, структурные, оптические и электрофизические свойства» |
Научный руководитель: |
д.ф.-м.н. Володин Владимир Алексеевич |
Лаборатория: | Лаб. №24 |
E-mail: |
Публикации:
Статьи в рецензируемых научных журналах:
Труды конференций:
Личное участие в конференциях:
Отчёты о выполнении НИР:
1-й семестр:
Изучались образцы, представляющие собой толстые плёнки состава GeO[SiO] и GeO[SiO2], выращенные методом электронно-лучевого испарения мишеней из порошков диоксида германия и монооксида или диоксида кремния.1. В спектрах ИК-поглощения плёнок обоих типов обнаружены пики, соответствующие поглощению на колебаниях связей Si-O, Ge-O, а также Si-O-Ge.
2. В спектре КРС плёнки GeO[SiO] обнаружен пик с положением 273 см(-1), который однозначно свидетельствует о наличии в данной плёнке кластеров аморфного германия.
3. Предположительно, в процессе осаждения плёнки из паров GeO и SiO на её поверхности протекает следующая реакция:
GeO + SiO → Ge + SiO2.
2-й семестр:
1. Проведены отжиги образцов при температурах от 400 oC до 650 oC.В спектрах ИК-поглощения плёнок обоих типов обнаружены пики, соответствующие поглощению на колебаниях связей Si-O, Ge-O, а также Si-O-Ge.
2. Исследовано образование Ge-нанокристаллов в отожжённых плёнках GeO[SiO] и GeO[SiO2].
В спектрах КРС обнаружены пики, которые свидетельствуют о наличии кластеров аморфного германия и нанокристаллов германия, причём приблизительные размеры составляют около 6 нм (GeO[SiO]) и 6,4 нм (GeO[SiO2]).
3. В исходных плёнках обнаружена ФЛ с максимумом 1050 нм при низких температурах. В плёнках, содержащих Ge-НК, наблюдается ФЛ с максимумом 1400-1600 нм. Возможно это проявление квантоворазмерного эффекта в Ge-НК. Выяснение природы ФЛ требует дальнейших исследований.
4. Представлен постер на конференции «Фотоника-2019».