1. N.A. Yeryukov, A.G. Milekhin, L.L. Sveshnikova, T.A. Duda, E.E. Rodyakina, E.S. Sheremet, M. Ludemann, A.V. Latyshev, and D.R.T. Zahn, Surface enhanced Raman scattering by organic and inorganic analytes on laterally ordered arrays of Au nanoclusters, Thin Solid Films, 543, 35-40 (2013).
  2. A.G. Milekhin, N.A. Yeryukov, A.I. Toropov, D.R.T. Zahn, Micro-Raman phonon scattering by InAs/AlAs quantum dot superlattices, Thin Solid Films, 543C, 23-26 (2013).
  3. A.G. Milekhin, N.A. Yeryukov, L.L. Sveshnikova, T.A. Duda, D. Protasov, A.K. Gutakovskii, S.A. Batcanov, N.V. Surovtsev, S.V. Adichtchev, C. Himcinschi, V. Dzhagan, F. Haidu, and D.R.T. Zahn, CdZnS Quantum Dots Formed by the Langmuir-Blodgett Technique, the Journal of Vacuum Science & Technology B, 31(4), 04D109 - 04D109-7 (2013).
  4. V. Dzhagan, M. Valakh, A. Milekhin, N. Yeryukov, B. Dubertret, E. Cassette, T. Pons, D.R.T. Zahn, Raman- and IR-active Phonons in CdSe-CdS Core/Shell Nanocrystals in Presence of Interface Alloying and Strain, The Journal of Physical Chemistry, 117 (35), 18225–18233 (2013).
  5. А.Г. Милехин, Л.Л. Свешникова, Т.А. Дуда, Н.А. Ерюков, Н.В. Суровцев, С.В. Адищев, Е.Е. Родякина, А.К. Гутаковский, А.В. Латышев, Д.Р.Т. Цан, Гигантское комбинационное рассеяние света полупроводниковыми наноструктурами, Автометрия, 49(54), 100-111 (2013).
  6. С.В. Адищев, М.В. Дасько, Л.Л. Свешникова, Н.А. Ерюков, А.Г. Милёхин, В.К. Малиновский, Н.В. Суровцев, Низкочастотное комбинационное рассеяние света наночастицами серебра, Автометрия, 49 (3), 89-95 (2013).
  7. А.В. Телегин, А.Г. Милехин, Влияние изотоп-замещения О16 на О18 на оптические свойства пленок (La1–xPrx)0,7Ca0,3MnO3, Перспективные материалы, 1, 77 (2013).
  8. Y. Kamikawa-Shimizu, R. Patterson, A. Milekhin, K. Akahane, Y. Shoji, D. R.T. Zahn, Y. Okada, G. Conibeer, Study of phonons in self-assembled InAs quantum dots embedded in an InGaAlAs matrix , Physica E, Available online 31 October (2013).
  9. T.V. Perevalov, V.Sh. Aliev, V.A. Gritsenko, A.A. Saraev, V.V. Kaichev / Electronic structure of oxygen vacancies in hafnium oxide//Microelectronic Engineering 109 (2013) 21-23.