Hitachi

Микроскоп Hitachi SU8220 является многофукциональным современным сканирующим электронным микроскопом с возможностью работы как на отражение так и на просвет.

Прибор оснащен следующими детекторами и опциями:

  1. LOWER детектор SE
  2. UPPER детектор SE
  3. TOP детектор SE
  4. Вдвижной полупроводниковый BSE-детектор
  5. Детектор для работы на просвет с доп. диафрагмой
  6. Полноформатная панель управления.

Дополнительно оснащен детекторами EDX Bruker в составе:

  1. Вдвижной детектор QUAD.
  2. Стандартный детектор Quantax 60.



  1. Марка — Hitachi SU8220.
  2. Производитель/страна — Hitachi, Япония.
  3. Основные технические характеристики:
    • Разрешение (вторичные электроны) — 0,8 нм при 15 кВ, WD 4 мм 1,1 нм при 1 кВ в режиме торможения электронов.
    • Увеличение: низкое х20 - х2,000; высокое х100 - х1 000 000.
    • Ускоряющее напряжение — от 0,5 до 30 кВ (0,1 кВ за шаг).
    • Электронная Пушка — холодный катод с полевой эмиссией.
  4. Местонахождение в ЦКПОтделение cканирующей электронной микроскопии, к. 107.
  5. Год модернизации — 2015.
  6. Балансовая стоимость — 78.575 тыс. руб.
  7. Нормативная стоимость часа работы с учетом амортизации — 5765 руб.
  8. Нормативное (среднее) количество обработанных образцов в час — 0,5.
  9. Предоставляемые услуги:
    • НОВОЕ!Исследование морфологии поверхности твердотельных и биологических нанообъектов с определением элементного состава методом сканирующей электронной микроскопии.
    • Проведение измерений линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и биологических объектов в нанометровом диапазоне.
    • Исследование морфологии и структуры поверхности твердотельных структур и оперативный контроль атомарных поверхностей методами сканирующей туннельной, атомно-силовой и электронной микроскопии.
  10. Используемые методики:
    • Методика количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур с применением сканирующего электронного микроскопа.