Integra Aura
  1. Марка — Integra Aura.
  2. Производитель/страна — НТ-МДТ, Россия.
  3. Технические характеристики:
    • Разрешение по вертикали — лучше, чем 0,08 нм.
    • Латеральное разрешение зависит от размера зонда (~10нм) и высоты рельефа поверхности.
    • Максимальный размер поля сканирования — 110×110 мкм2.
    • Возможность проведения измерений методом СТМ.
    • Возможность проведения измерений:
      • в атмосферных условиях;
      • в вакууме (Рост~10-4 Торр);
      • в жидкостной ячейке.
  4. Поддерживается зондовая литография.
  5. Поддерживается измерение распределения по поверхности:
    • электростатического потенциала,
    • кулоновского заряда,
    • электрической емкости ( в относительных единицах),
    • намагниченности,
    • твердости,
    • силы трения.
  6. Местонахождение в ЦКПОтделение зондовой микроскопии, к. 107.
  7. Год модернизации — 2012.
  8. Балансовая стоимость — 4160 тыс. руб.
  9. Нормативная стоимость часа работы с учетом амортизации — 2197 руб.
  10. Нормативное (среднее) количество обработанных образцов в час — 1.
  11. Предоставляемые услуги:
    • Проведение измерений линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и биологических объектов в нанометровом диапазоне.
    • Исследование морфологии и структуры поверхности твердотельных структур и оперативный контроль атомарных поверхностей методами сканирующей туннельной, атомно-силовой и электронной микроскопии.
    • Cоздание структур пониженной размерности для наноэлектроники и наномеханики на основе комплекса литографических методов, включающих электронную, ионно-лучевую и зондовую литографию.
  12. Используемые методики:
    • Методика трехмерных измерений линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
    • Методика трехмерных измерений линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности конденсированных сред с помощью мер нанометрового диапазона.
    • Методика трехмерных измерений линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности биологических объектов с помощью жидкостной ячейки.
    • Методика измерений распределения электростатического потенциала по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
    • Методика измерений распределения электростатического заряда по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
    • Методика измерений распределения производной емкости (в относительных единицах) по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
    • Методика измерений распределения намагниченности (в относительных единицах) по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
    • Методика измерений микротвердости (в относительных единицах) поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
    • Методика измерений распределения трения (в относительных единицах) по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
    • Методика модификации поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.