В период с 10 ноября 2016 по 15 декабря 2016 года выполнены исследования экспериментальных образцов субмикронных интегральных микросхем методом сканирующей аналитической электронной микроскопии в рамках прикладного научного исследования по теме «Разработка перспективных технологий и конструкций серии интегральных микросхем мультифункционального контроля и управления источниками вторичного электропитания энергоэффективных светодиодных систем», выполняемого ООО «СибИС» по соглашению № 14.579.21.0089 от 14 ноября 2014 года с Минобрнауки РФ о представлении субсидии в целях реализации федеральной целевой программы «Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2014 - 2020 годы».
